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ステンレス鋼

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件名：ソース: Ku Peek

2785 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41894. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, 100K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41894
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.5.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41895. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, 200K., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41895
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)3.5.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-41896. SUS, K274, RTNS-II, 150°, WW, ED., [1989年6月9日.]

 アイテム
資料番号: L-41896
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K274. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150°. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42816. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 30K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42816
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「'89. 7. 24~」.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42817. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 50K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42817
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42818. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42818
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)2.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42819. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42819
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)3.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42820. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42820
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42821. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 150K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42821
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)150K. (ブラック条件からのずれs)3.

(備考)200.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42822. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42822
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42823. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42823
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42824. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42824
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42825. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42825
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42826. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42826
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)4.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42827. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42827
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)4.

(備考)」200.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42828. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42828
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42829. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42829
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42830. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42830
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42831. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42831
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42832. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42832
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

(備考)」220.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42833. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42833
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42834. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42834
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42835. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42835
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42836. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42836
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42837. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42837
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

(備考)」111.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42838. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42838
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42839. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42839
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42840. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42840
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42841. SUS, B717, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [19]'89. 7. 24~.

 アイテム
資料番号: L-42841
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B717. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [19]'89. 7. 24~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42842. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 50K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42842
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42843. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42843
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42844. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42844
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42845. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42845
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42846. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42846
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42847. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-42847
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42848. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-42848
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42849. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-42849
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42850. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-42850
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42851. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-42851
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42852. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-42852
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42853. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 200K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-42853
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42854. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42854
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42855. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42855
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42856. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42856
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42857. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42857
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42858. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42858
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42859. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42859
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42860. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42860
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42861. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42861
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-42862. SUS, 745, RTNS-II, 200°, W, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-42862
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号)745. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200°. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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