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ステンレス鋼

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件名：ソース: Ku Peek

2785 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43050. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43050
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43051. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43051
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43052. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43052
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43053. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43053
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)220.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43054. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43054
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)220.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43055. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43055
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)220.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43056. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43056
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

(備考)220.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43057. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43057
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43058. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43058
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43059. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43059
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

(備考)111.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43060. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43060
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)200.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43061. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43061
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)200.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43062. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43062
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)200K.

(備考)200.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43063. SUS, J094, RTNS-II　last, 290℃, SS, 330K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43063
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J094. (照射条件)RTNS-II　last. (照射温度)290℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)330K.

(備考)200.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43136. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43136
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43137. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43137
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43138. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43138
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43139. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43139
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43140. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43140
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

(備考)」.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43141. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43141
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43142. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43142
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43143. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43143
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43144. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43144
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

(備考)」.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43145. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43145
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43146. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43146
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43147. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43147
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43148. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43148
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43149. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43149
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43150. SUS, K247, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43150
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K247. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43151. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43151
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43152. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43152
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43153. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43153
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43154. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43154
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43155. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43155
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43156. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43156
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43157. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43157
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43158. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 200K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-43158
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43159. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, ED., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-43159
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43160. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

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資料番号: L-43160
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43161. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43161
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43162. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43162
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43163. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43163
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43164. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43164
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43165. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43165
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43166. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43166
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43167. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43167
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43168. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 200K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43168
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43169. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43169
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43170. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43170
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-43171. SUS, K233, RTNS-II, RT, WW., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: L-43171
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) K233. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)WW.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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