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ステンレス鋼

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件名：ソース: Ku Peek

2785 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44278. SUS, B772, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44278
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44279. SUS, B772, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44279
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)右へ 4 step.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44280. SUS, B772, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44280
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)左へ 4 step.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44281. SUS, B772, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 330K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44281
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44282. SUS, B772, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44282
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44283. SUS, B772, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44283
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44284. SUS, B772, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44284
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44285. SUS, B772, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44285
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44286. SUS, B772, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44286
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44287. SUS, B772, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44287
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44288. SUS, B772, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 330K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44288
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44289. SUS, B772, RTNS-II, 450℃, SSS, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44289
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) B772. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44290. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, DF, 50K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44290
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44291. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44291
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44292. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44292
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44293. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44293
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44294. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, DF, 330K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44294
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)330K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44295. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44295
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44296. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44296
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)右へ 3 step.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44297. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44297
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)左へ 3 step.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44298. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44298
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44299. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44299
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44300. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44300
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44301. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44301
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44302. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44302
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44303. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44303
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44304. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44304
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44305. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44305
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44306. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44306
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44307. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44307
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K.

(備考)07.08.09は一組.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44308. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44308
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)右へ.

(備考)はっきりした点が視野に数個.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44309. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, DF, 200K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44309
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)200K. (ブラック条件からのずれs)左へ.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44310. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44310
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44311. SUS, J095, RTNS-II, 290℃, S, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44311
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (試料番号) J095. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44312. SUS, JMTR controlled, 300℃, 30K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44312
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)30K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44313. SUS, JMTR controlled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44313
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44314. SUS, JMTR controlled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44314
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44315. SUS, JMTR controlled, 300℃, DF, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44315
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44316. SUS, JMTR controlled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

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資料番号: L-44316
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44317. SUS, JMTR controlled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44317
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44318. SUS, JMTR controlled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44318
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44319. SUS, JMTR controlled, 300℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44319
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44320. SUS, JMTR controlled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44320
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44321. SUS, JMTR controlled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44321
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44322. SUS, JMTR controlled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44322
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44323. SUS, JMTR controlled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44323
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44324. SUS, JMTR controlled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44324
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44325. SUS, JMTR controlled, 300℃, ED., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44325
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44326. SUS, JMTR controlled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44326
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)220.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-44327. SUS, JMTR controlled, 300℃, 100K., [1989年9月1日.]

 アイテム
資料番号: L-44327
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年9月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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