ステンレス鋼

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104750. SUS, S904, 300℃, 大, DF, 100K., [1996年]1/13.

アイテム

資料番号: L-104750

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)S904. (照射温度)300℃. (照射量)大. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　＋2赤（0-6、350）.

日付: [1996年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104751. SUS, S904, 300℃, 大, 50K., [1996年]1/13.

アイテム

資料番号: L-104751

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)S904. (照射温度)300℃. (照射量)大. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1996年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104752. SUS, S904, 300℃, 大, 150K., [1996年]1/13.

アイテム

資料番号: L-104752

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)S904. (照射温度)300℃. (照射量)大. (条件・倍率等)150K.

(備考)β.

日付: [1996年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104753. SUS, S904, 300℃, 大, BF, 50K., [1996年]1/13.

アイテム

資料番号: L-104753

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)S904. (照射温度)300℃. (照射量)大. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1996年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104754. SUS, S904, 300℃, 大, 20K., [1996年]1/13.

アイテム

資料番号: L-104754

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)S904. (照射温度)300℃. (照射量)大. (条件・倍率等)20K.

日付: [1996年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104755. SUS, S904, 300℃, 大, 100K., [1996年]1/13.

アイテム

資料番号: L-104755

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)S904. (照射温度)300℃. (照射量)大. (条件・倍率等)100K.

日付: [1996年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104756. SUS, S904, 300℃, 大, 150K., [1996年]1/13.

アイテム

資料番号: L-104756

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)S904. (照射温度)300℃. (照射量)大. (条件・倍率等)150K.

日付: [1996年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104757. SUS, S904, 300℃, 大, ED., [1996年]1/13.

アイテム

資料番号: L-104757

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)S904. (照射温度)300℃. (照射量)大. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1996年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104758. SUS, S904, 300℃, 大, 100K., [1996年]1/13.

アイテム

資料番号: L-104758

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)S904. (照射温度)300℃. (照射量)大. (条件・倍率等)100K.

日付: [1996年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104759. SUS, S904, 300℃, 大, 50K., [1996年]1/13.

アイテム

資料番号: L-104759

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)S904. (照射温度)300℃. (照射量)大. (条件・倍率等)50K.

日付: [1996年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104760. SUS, S904, 300℃, 大, 100K., [1996年]1/13.

アイテム

資料番号: L-104760

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)S904. (照射温度)300℃. (照射量)大. (条件・倍率等)100K.

日付: [1996年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104761. SUS, S904, 300℃, 大, 150K., [1996年]1/13.

アイテム

資料番号: L-104761

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)S904. (照射温度)300℃. (照射量)大. (条件・倍率等)150K.

日付: [1996年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104762. SUS, S904, 300℃, 大, ED., [1996年]1/13.

アイテム

資料番号: L-104762

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)S904. (照射温度)300℃. (照射量)大. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1996年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104763. SUS, S904, 300℃, 大, 100K., [1996年]1/13.

アイテム

資料番号: L-104763

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)S904. (照射温度)300℃. (照射量)大. (条件・倍率等)100K.

日付: [1996年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104764. SUS, S904, 300℃, 大, 50K., [1996年]1/13.

アイテム

資料番号: L-104764

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)S904. (照射温度)300℃. (照射量)大. (条件・倍率等)50K.

日付: [1996年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104765. SUS, S904, 300℃, 大, 100K., [1996年]1/13.

アイテム

資料番号: L-104765

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)S904. (照射温度)300℃. (照射量)大. (条件・倍率等)100K.

日付: [1996年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104766. SUS, S904, 300℃, 大, 150K., [1996年]1/13.

アイテム

資料番号: L-104766

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)S904. (照射温度)300℃. (照射量)大. (条件・倍率等)150K.

日付: [1996年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104767. SUS, S904, 300℃, 大, 150K., [1996年]1/13.

アイテム

資料番号: L-104767

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)S904. (照射温度)300℃. (照射量)大. (条件・倍率等)150K.

日付: [1996年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104768. SUS, S904, 300℃, 大, ED., [1996年]1/13.

アイテム

資料番号: L-104768

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)S904. (照射温度)300℃. (照射量)大. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1996年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-104769. SUS, S904, 300℃, 大, 100K., [1996年]1/13.

アイテム

資料番号: L-104769

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (試料番号)S904. (照射温度)300℃. (照射量)大. (条件・倍率等)100K.

日付: [1996年]1/13.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105158. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105158

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)日付元記載「1/12」（2/12の誤りであると思われる）. 実験者元記載「堀木」.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105159. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105159

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105160. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 100K., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105160

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105161. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105161

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105162. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105162

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105163. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105163

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105164. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105164

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝5.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105165. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105165

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105166. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105166

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105167. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, DF, 100K., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105167

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105168. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105168

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105169. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105169

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105170. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105170

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105171. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105171

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝5.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105172. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105172

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105173. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105173

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝7.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105174. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, ED., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105174

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＝8.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105175. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105175

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105176. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105176

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105177. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105177

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105178. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105178

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105179. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105179

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105180. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105180

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝5.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105181. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105181

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105182. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, DF, 100K., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105182

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)日付元記載「1/12」（2/12の誤りであると考えられる）.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105183. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105183

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105184. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105184

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝4.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105185. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105185

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝5.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105186. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105186

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝6.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105187. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105187

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝7.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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