ステンレス鋼

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105188. SUS, JMTRuncontroll, 200℃., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105188

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (ブラック条件からのずれs)s＝8.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105189. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, ED., [1996年]1[ママ, 2]/12.

アイテム

資料番号: L-105189

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1996年]1[ママ, 2]/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105245. SUS, e-irr, BF, 100K., [1996年]3/5.

アイテム

資料番号: L-105245

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)tilt＋2、赤(0-5,140). 日付元記載「3/5」. 実験者元記載「堀木」.

日付: [1996年]3/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105246. SUS, e-irr, DF, 100K., [1996年]3/5.

アイテム

資料番号: L-105246

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)①.

日付: [1996年]3/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105247. SUS, e-irr, DF, 100K., [1996年]3/5.

アイテム

資料番号: L-105247

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)②.

日付: [1996年]3/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105248. SUS, e-irr, DF, 100K., [1996年]3/5.

アイテム

資料番号: L-105248

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)150℃.

日付: [1996年]3/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105249. SUS, e-irr, DF, 100K., [1996年]3/5.

アイテム

資料番号: L-105249

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)150℃.

日付: [1996年]3/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105250. SUS, e-irr, DF, 100K., [1996年]3/5.

アイテム

資料番号: L-105250

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)200℃.

日付: [1996年]3/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105251. SUS, e-irr, DF, 100K., [1996年]3/5.

アイテム

資料番号: L-105251

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)200℃.

日付: [1996年]3/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105252. SUS, e-irr, DF, 100K., [1996年]3/5.

アイテム

資料番号: L-105252

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)250℃.

日付: [1996年]3/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105253. SUS, e-irr, DF, 100K., [1996年]3/5.

アイテム

資料番号: L-105253

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)250℃.

日付: [1996年]3/5.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105254. SUS, e-irr, DF, 100K., [1996年3月5日.]

アイテム

資料番号: L-105254

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)300℃. 実験者元記載「堀木」.

日付: [1996年3月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105255. SUS, e-irr, DF, 100K., [1996年3月5日.]

アイテム

資料番号: L-105255

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)300℃.

日付: [1996年3月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105256. SUS, e-irr, DF, 100K., [1996年3月5日.]

アイテム

資料番号: L-105256

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)350℃.

日付: [1996年3月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105257. SUS, e-irr, DF, 100K., [1996年3月5日.]

アイテム

資料番号: L-105257

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)350℃.

日付: [1996年3月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105258. SUS, e-irr, DF, 100K., [1996年3月5日.]

アイテム

資料番号: L-105258

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)400℃.

日付: [1996年3月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105259. SUS, e-irr, DF, 100K., [1996年3月5日.]

アイテム

資料番号: L-105259

範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)e-irr. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)400℃.

日付: [1996年3月5日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105374. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]3/12.

アイテム

資料番号: L-105374

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「3/12」. 実験者元記載「堀木」.

日付: [1996年]3/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105375. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]3/12.

アイテム

資料番号: L-105375

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1996年]3/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105376. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]3/12.

アイテム

資料番号: L-105376

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)双晶側.

日付: [1996年]3/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105377. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]3/12.

アイテム

資料番号: L-105377

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1996年]3/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105378. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]3/12.

アイテム

資料番号: L-105378

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)GB側.

日付: [1996年]3/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105379. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]3/12.

アイテム

資料番号: L-105379

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1996年]3/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105380. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]3/12.

アイテム

資料番号: L-105380

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1996年]3/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105381. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]3/12.

アイテム

資料番号: L-105381

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)tilt＋2.5赤(6-12,240).

日付: [1996年]3/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105382. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]3/12.

アイテム

資料番号: L-105382

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)n＝3.

日付: [1996年]3/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105383. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]3/12.

アイテム

資料番号: L-105383

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)n＝6　tilt＋10.5赤(6-12,300).

日付: [1996年]3/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105384. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, BF, 50K., [1996年]3/12.

アイテム

資料番号: L-105384

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)n＝7.

日付: [1996年]3/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-105385. SUS, JMTRuncontroll, 200℃, ED., [1996年]3/12.

アイテム

資料番号: L-105385

範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRuncontroll. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)（n＝7）.

日付: [1996年]3/12.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5597. SUS, A-409, 300K, M, 8K., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5597

範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-409. (照射温度)300K. (照射量)M. (条件・倍率等)8K.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5598. SUS, A-409, 300K, M, 3.7K., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5598

範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-409. (照射温度)300K. (照射量)M. (条件・倍率等)3.7K.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5599. SUS, A-409, 300K, M, ED., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5599

範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-409. (照射温度)300K. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5600. SUS, A-409, 300K, M, 8K., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5600

範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-409. (照射温度)300K. (照射量)M. (条件・倍率等)8K.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5601. SUS, A-419, 300K, WW, 8K., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5601

範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW. (条件・倍率等)8K.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5602. SUS, A-419, 300K, WW., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5602

範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5603. SUS, A-419, 300K, WW., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5603

範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5604. SUS, A-419, 300K, WW., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5604

範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5605. SUS, A-419, 300K, WW., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5605

範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5606. SUS, A-419, 300K, WW., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5606

範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5607. SUS, A-419, 300K, WW., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5607

範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5608. SUS, A-419, 300K, WW., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5608

範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5609. SUS, A-419, 300K, WW., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5609

範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5610. SUS, A-419, 300K, WW., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5610

範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5611. SUS, A-419, 300K, WW., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5611

範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)A-419. (照射温度)300K. (照射量)WW.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5612. SUS, 300K, SS., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5612

範囲と内容

(試料)SUS. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5613. SUS, 300K, SS., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5613

範囲と内容

(試料)SUS. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5614. SUS, 300K, SS., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5614

範囲と内容

(試料)SUS. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5615. SUS, 300K, SS., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5615

範囲と内容

(試料)SUS. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5616. SUS, 300K, SS., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5616

範囲と内容

(試料)SUS. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5617. SUS, 300K, SS., [1985年2月20日.]

アイテム

資料番号: O-5617

範囲と内容

(試料)SUS. (照射温度)300K. (照射量)SS.

日付: [1985年2月20日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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