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ステンレス鋼

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件名：ソース: Ku Peek

2785 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37267. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 30K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37267
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37268. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 30K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37268
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37269. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 30K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37269
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)30K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37270. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37270
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS.

(備考)制　下1赤0（320）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37271. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37271
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37272. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37272
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37273. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37273
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37274. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37274
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37275. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37275
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37276. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37276
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)下10赤6（300）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37277. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37277
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37278. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37278
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37279. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37279
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37280. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37280
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37281. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37281
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37282. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37282
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K　. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37283. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37283
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K　. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37284. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37284
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K　. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37285. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37285
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K　. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37286. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, ED., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37286
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37287. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37287
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS.

(備考)制.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37288. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37288
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37289. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37289
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37290. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37290
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)下18黒37（320）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37291. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37291
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37292. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37292
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37293. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37293
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37294. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37294
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)下19黒30（360）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37295. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37295
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37296. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37296
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37297. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37297
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)下3　0（0）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37298. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 50K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37298
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37299. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37299
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37300. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 59K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37300
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)59K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)上1黒11（320）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37301. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37301
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37302. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37302
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37303. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37303
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)上12　（00）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37304. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37304
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上15赤10（320）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37305. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37305
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37306. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37306
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上2　00.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37307. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37307
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上12赤5（20）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37308. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37308
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37309. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, BF, 15K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37309
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)15K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37310. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37310
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)上11　0.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37311. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37311
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)上2　赤1（60）.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37312. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37312
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37313. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF, 100K., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37313
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37314. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37314
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37315. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37315
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-37316. SUS, B870, RTNS-II, 450℃, SSS, DF., [1988年8月4日.]

 アイテム
資料番号: L-37316
範囲と内容

(試料)SUS. (試料番号)B870. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SSS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年8月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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