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ステンレス鋼

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件名：ソース: Ku Peek

2785 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37295. SUS316, α197 Kohyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37295
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37296. SUS316, α197 Kohyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37296
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37297. SUS316, α197 Kohyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37297
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37298. SUS316, α197 Kohyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37298
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37299. SUS316, α197 Kohyama, RTNS-II, RT, M, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37299
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37300. SUS316, α197 Kohyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37300
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β”　上6.5（＋）赤6（0）.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37301. SUS316, α197 Kohyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37301
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37302. SUS316, α197 Kohyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37302
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37303. SUS316, α197 Kohyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37303
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37304. SUS316, α197 Kohyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37304
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37305. SUS316, α197 Kohyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37305
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)γ　上と同じ傾き.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37306. SUS316, α197 Kohyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37306
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37307. SUS316, α197 Kohyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37307
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37308. SUS316, α197 Kohyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37308
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37309. SUS316, α197 Kohyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37309
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37310. SUS316, α197 Kohyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37310
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37311. SUS316, α197 Kohyama, RTNS-II, RT, M, ED., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37311
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37312. SUS316, α197 Kohyama, RTNS-II, RT, M, LM., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37312
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (条件・倍率等)LM.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-37313. SUS316, α197 Kohyama, RTNS-II, RT, M, LM., [1986年12月8日.]

 アイテム
資料番号: O-37313
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Kohyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (条件・倍率等)LM.

(備考)α、β、α’、β’.

日付: [1986年12月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56307. SUS, RTNS-II, 200℃, M., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56307
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56308. SUS, RTNS-II, 200℃, M., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56308
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56309. SUS, RTNS-II, 200℃, M., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56309
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56310. SUS, RTNS-II, 200℃, M., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56310
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56311. SUS, RTNS-II, 200℃, M., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56311
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3.5).

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56312. SUS, RTNS-II, 200℃, M., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56312
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56313. SUS, RTNS-II, 200℃, M., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56313
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

(備考)α.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56314. SUS, RTNS-II, 200℃, M., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56314
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(3.5).

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56315. SUS, RTNS-II, 200℃, M, 52K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56315
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56316. SUS, RTNS-II, 200℃, M, 52K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56316
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56317. SUS, RTNS-II, 200℃, M, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56317
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56318. SUS, RTNS-II, 200℃, M., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56318
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56319. SUS, RTNS-II, 200℃, M., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56319
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0（3.5）.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56320. SUS, RTNS-II, 200℃, M., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56320
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56321. SUS, RTNS-II, 200℃, M., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56321
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56322. SUS, RTNS-II, 200℃, M., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56322
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56323. SUS, RTNS-II, 200℃, M., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56323
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56324. SUS, RTNS-II, 200℃, M., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56324
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56325. SUS, RTNS-II, 200℃, M, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56325
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56326. SUS, RTNS-II, 200℃, M., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56326
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

(備考)100面.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56327. SUS, RTNS-II, 200℃, M., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56327
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56328. SUS, RTNS-II, 200℃, M., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56328
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56329. SUS, RTNS-II, 200℃, M., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56329
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56330. SUS, RTNS-II, 200℃, M, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56330
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56331. SUS, RTNS-II, 200℃, SSS., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56331
範囲と内容

(試料)SUS. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞0　3.5.

(備考)（101）近く.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56332. SUS, RTNS-II, 200℃, SSS., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56332
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞0　3.5.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56333. SUS, RTNS-II, 200℃, SSS., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56333
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞0　3.5.

(備考)Yステレオ.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56334. SUS, RTNS-II, 200℃, SSS., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56334
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞0　3.5.

(備考)Yステレオ.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56335. SUS, RTNS-II, 200℃, SSS., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56335
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞0　4.

(備考)　Yステレオ.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56336. SUS, RTNS-II, 200℃, SSS., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56336
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞0　4.

(備考)　Yステレオ.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56337. SUS, RTNS-II, 200℃, SSS., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56337
範囲と内容

(試料)SUS. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SSS. (ブラック条件からのずれs)s＞0　4.

(備考)　Yステレオ.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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