バナジウム

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100118. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 50K., [1995年1月]26日.

アイテム

資料番号: L-100118

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

(備考)α.

日付: [1995年1月]26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100119. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, ED., [1995年1月]26日.

アイテム

資料番号: L-100119

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1995年1月]26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100120. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, BF, 50K., [1995年1月]26日.

アイテム

資料番号: L-100120

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

(備考)α.

日付: [1995年1月]26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100121. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, BF, 100K., [1995年1月]26日.

アイテム

資料番号: L-100121

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

(備考)α.

日付: [1995年1月]26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100122. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 100K., [1995年1月]26日.

アイテム

資料番号: L-100122

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)β　＋1黒12（120）　.

日付: [1995年1月]26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100123. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 100K., [1995年1月]26日.

アイテム

資料番号: L-100123

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.0.

(備考)β　.

日付: [1995年1月]26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100124. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 50K., [1995年1月]26日.

アイテム

資料番号: L-100124

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.0.

(備考)β　.

日付: [1995年1月]26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100125. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, ED., [1995年1月]26日.

アイテム

資料番号: L-100125

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　.

日付: [1995年1月]26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100126. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 100K., [1995年1月]26日.

アイテム

資料番号: L-100126

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)γ　＋3黒9（40）.

日付: [1995年1月]26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100127. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 100K., [1995年1月]26日.

アイテム

資料番号: L-100127

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.0.

(備考)γ.

日付: [1995年1月]26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100128. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 50K., [1995年1月]26日.

アイテム

資料番号: L-100128

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5-Δ.

(備考)γ.

日付: [1995年1月]26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100129. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, ED., [1995年1月]26日.

アイテム

資料番号: L-100129

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: [1995年1月]26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100130. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, BF, 50K., [1995年1月]26日.

アイテム

資料番号: L-100130

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

(備考)γ.

日付: [1995年1月]26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100131. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, BF, 100K., [1995年1月]26日.

アイテム

資料番号: L-100131

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.5.

(備考)γ.

日付: [1995年1月]26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100132. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 50K., [1995年1月]26日.

アイテム

資料番号: L-100132

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年1月]26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100133. V, Cuイオン照射120keV, 1000sec, DF, 100K., [1995年1月]26日.

アイテム

資料番号: L-100133

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1000sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1995年1月]26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100134. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, DF., [1995年1月26日.]

アイテム

資料番号: L-100134

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)α0、黒6（160）.

日付: [1995年1月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100135. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, DF., [1995年1月26日.]

アイテム

資料番号: L-100135

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5-Δ.

(備考)α.

日付: [1995年1月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100136. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, ED., [1995年1月26日.]

アイテム

資料番号: L-100136

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年1月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100137. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, BF., [1995年1月26日.]

アイテム

資料番号: L-100137

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1995年1月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100138. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, DF., [1995年1月26日.]

アイテム

資料番号: L-100138

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5.

(備考)β　＋2黒0（60）.

日付: [1995年1月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100139. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, DF., [1995年1月26日.]

アイテム

資料番号: L-100139

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.5-Δ.

(備考)β.

日付: [1995年1月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100140. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, ED., [1995年1月26日.]

アイテム

資料番号: L-100140

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1995年1月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100141. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, DF., [1995年1月26日.]

アイテム

資料番号: L-100141

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝3.0＋Δ.

(備考)β.

日付: [1995年1月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100142. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, BF., [1995年1月26日.]

アイテム

資料番号: L-100142

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1995年1月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100143. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, DF., [1995年1月26日.]

アイテム

資料番号: L-100143

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1995年1月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100144. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, DF., [1995年1月26日.]

アイテム

資料番号: L-100144

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)隣視野.

日付: [1995年1月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100145. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, 低倍., [1995年1月26日.]

アイテム

資料番号: L-100145

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (条件・倍率等)低倍.

(備考)失敗.

日付: [1995年1月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100146. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, 低倍., [1995年1月26日.]

アイテム

資料番号: L-100146

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (条件・倍率等)低倍.

(備考)失敗.

日付: [1995年1月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100147. V, Cuイオン照射120keV, 1500sec, 低倍., [1995年1月26日.]

アイテム

資料番号: L-100147

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Cuイオン照射120keV. (照射量)1500sec. (条件・倍率等)低倍.

日付: [1995年1月26日.]

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100150. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, BF, 50K., [1995年]1月26日.

アイテム

資料番号: L-100150

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「1月26日」.

日付: [1995年]1月26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100151. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, BF, 50K., [1995年]1月26日.

アイテム

資料番号: L-100151

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100152. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 50K., [1995年]1月26日.

アイテム

資料番号: L-100152

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100153. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 100K., [1995年]1月26日.

アイテム

資料番号: L-100153

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100154. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 100K., [1995年]1月26日.

アイテム

資料番号: L-100154

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100155. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 100K., [1995年]1月26日.

アイテム

資料番号: L-100155

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100156. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 100K., [1995年]1月26日.

アイテム

資料番号: L-100156

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100157. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 100K., [1995年]1月26日.

アイテム

資料番号: L-100157

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100158. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, BF, 50K., [1995年]1月26日.

アイテム

資料番号: L-100158

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100159. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 50K., [1995年]1月26日.

アイテム

資料番号: L-100159

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100160. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 50K., [1995年]1月26日.

アイテム

資料番号: L-100160

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100161. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 50K., [1995年]1月26日.

アイテム

資料番号: L-100161

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100162. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 50K., [1995年]1月26日.

アイテム

資料番号: L-100162

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1995年]1月26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100163. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, ED., [1995年]1月26日.

アイテム

資料番号: L-100163

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1995年]1月26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100164. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 100K., [1995年]1月26日.

アイテム

資料番号: L-100164

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]1月26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100165. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 100K., [1995年]1月26日.

アイテム

資料番号: L-100165

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]1月26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100166. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 100K., [1995年]1月26日.

アイテム

資料番号: L-100166

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1995年]1月26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100167. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 50K., [1995年]1月26日.

アイテム

資料番号: L-100167

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]1月26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100168. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 50K., [1995年]1月26日.

アイテム

資料番号: L-100168

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]1月26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-100169. V, Heイオン照射1MeV, 600sec, DF, 50K., [1995年]1月26日.

アイテム

資料番号: L-100169

範囲と内容

(試料)V. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (照射量)600sec. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

日付: [1995年]1月26日.

見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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