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銅合金

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件名：ソース: Ku Peek

2962 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28575. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28575
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28576. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28576
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28577. Cu-0.3Sn, G691, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28577
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G691. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28578. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28578
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28579. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28579
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28580. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28580
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28581. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28581
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28582. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28582
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28583. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28583
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s更に大.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28584. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28584
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s更に大.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28585. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28585
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28586. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28586
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28587. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28587
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28588. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28588
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28589. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28589
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28590. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28590
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28591. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28591
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s更に大.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28592. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 80K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28592
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s更に大.

(備考)だめ.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28593. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28593
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s更に大.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28594. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28594
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28595. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28595
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28596. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28596
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28597. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28597
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28598. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, BF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28598
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28599. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28599
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28600. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28600
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28601. Cu-0.3Si, G571, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28601
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G571. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28602. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28602
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28603. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28603
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28604. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28604
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28605. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28605
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28606. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28606
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28607. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28607
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28608. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28608
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28609. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28609
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28610. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28610
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28611. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28611
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28612. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28612
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28613. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28613
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28614. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28614
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28615. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28615
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s更に大.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28616. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28616
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28617. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28617
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28618. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, BF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28618
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28619. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28619
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28620. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28620
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28621. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28621
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28622. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28622
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28623. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28623
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28624. Cu-0.3Ni, G751, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28624
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G751. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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