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銅合金

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件名：ソース: Ku Peek

2962 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28710. Cu-2Sn, G672, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28710
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G672. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)GB入り.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28711. Cu-2Sn, G672, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28711
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G672. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28712. Cu-2Sn, G672, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28712
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G672. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28713. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28713
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28714. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28714
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28715. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28715
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28716. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28716
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28717. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28717
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28718. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28718
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28719. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, BF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28719
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28720. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28720
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28721. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28721
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28722. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28722
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28723. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28723
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28724. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28724
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28725. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28725
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28726. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28726
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28727. Cu-2Ge, G612, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28727
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G612. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)完.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28728. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28728
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28729. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28729
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28730. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28730
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28731. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28731
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28732. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28732
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28733. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28733
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28734. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, BF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28734
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28735. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28735
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28736. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28736
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28737. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28737
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28738. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28738
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28739. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28739
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28740. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28740
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28741. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28741
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28742. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28742
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)GB含む.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28743. Cu-0.3Sn, G692, 200℃, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28743
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G692. (照射温度)200℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)GB含む.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28897. Cu-0.3Ge, G631, 200℃, SS, BF, 42K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28897
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G631. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (反射ベクトルg)111. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ダメ　厚すぎる.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28898. Cu-0.3Ge, G631, 200℃, SS, 42K., [1986年8月2日.]

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資料番号: O-28898
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G631. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)42K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28899. Cu-0.3Ge, G631, 200℃, SS, BF, 52K?., [1986年8月2日.]

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資料番号: O-28899
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G631. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K?. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28900. Cu-0.3Ge, G631, 200℃, SS, DF, 52K?., [1986年8月2日.]

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資料番号: O-28900
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G631. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K?. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28901. Cu-0.3Ge, G631, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28901
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G631. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28902. Cu-0.3Ge, G631, 200℃, SS, 52K., [1986年8月2日.]

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資料番号: O-28902
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G631. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28903. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28903
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28904. Cu-0.3Ge, G632, M, BF, 52K., [1986年8月2日.]

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資料番号: O-28904
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28905. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

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資料番号: O-28905
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28906. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28906
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28907. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28907
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28908. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28908
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28909. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 100K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28909
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28910. Cu-0.3Ge, G632, M, ED., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28910
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28911. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 16K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28911
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.2.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28912. Cu-0.3Ge, G632, M, DF, 52K., [1986年8月2日.]

 アイテム
資料番号: O-28912
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G632. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年8月2日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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