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銅合金

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件名：ソース: Ku Peek

2962 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32416. Cu-0.05Sn, RTNS-II, 290℃, SS-2, BF, 21K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32416
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)SS-2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32417. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32417
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32418. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32418
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32419. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32419
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32420. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32420
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32421. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32421
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32422. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32422
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32423. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32423
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32424. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 100K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32424
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32425. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32425
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32426. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32426
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32427. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32427
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32428. Cu-0.05Sn, G713, RTNS-II, 200℃, WW, DF, 52K., [1968年10月9日.]

 アイテム
資料番号: O-32428
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G713. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1968年10月9日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32471. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 16K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32471
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　-25.3黒10（340）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32472. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32472
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32473. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32473
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32474. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32474
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32475. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32475
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32476. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32476
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32477. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32477
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　　-32.3黒11.5（100）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32478. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32478
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32479. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32479
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32480. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32480
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32481. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32481
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β’　　32.3黒11.5（80）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32482. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32482
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β’.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32483. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32483
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β’.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32484. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32484
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32485. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32485
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)酸化激しく他にareaなし.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32486. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32486
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32487. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32487
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32488. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32488
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上9（-）黒9（160）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32489. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32489
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32490. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32490
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32491. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32491
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32492. Cu-2Si, G554, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32492
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G554. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32493. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32493
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　-8.0　黒5（120）A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32494. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32494
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32495. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32495
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32496. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32496
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32497. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32497
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32498. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32498
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32499. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32499
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32500. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32500
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32501. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32501
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　A　　-2.0　11（140）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32502. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32502
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32503. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32503
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32504. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32504
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32505. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32505
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32506. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32506
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32507. Cu-2Ni, G734, RTNS-II, 450℃, DF, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32507
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G734. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)ED.

(備考)β　A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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