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銅合金

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件名：ソース: Ku Peek

2962 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32608. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32608
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32609. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32609
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32610. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32610
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　動くSFT.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32611. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32611
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　動くSFT.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32612. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32612
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　動くSFT.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32613. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32613
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32614. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32614
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32615. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32615
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32616. Cu-0.3Ni, G754, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32616
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (試料番号)G754. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32667. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32667
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ST.A　＋2　0（0）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32668. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32668
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32669. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32669
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32670. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32670
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32671. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32671
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32672. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32672
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32673. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32673
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32674. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32674
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s更に大きく.

(備考)ST.B　　0　黒7（90）　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32675. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32675
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.B　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32676. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32676
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.B　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32677. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32677
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.B　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32678. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32678
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.B　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32679. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32679
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.B　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32680. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32680
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32681. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32681
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.B　　　　＋0.5　黒7（90）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32682. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32682
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.B　.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32683. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32683
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ST.A　　　　　＋3　赤2（140）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32684. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32684
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ST.A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32685. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32685
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32686. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32686
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32687. Cu-0.05Si, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32687
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

(備考)ST.A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32688. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32688
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　ST.1　-9.5　赤10（280）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32689. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32689
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32690. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32690
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32691. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32691
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32692. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32692
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32693. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32693
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32694. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32694
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32695. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32695
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32696. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32696
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)A　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32697. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32697
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)B　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32698. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32698
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

(備考)B　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32699. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32699
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

(備考)A　ST.1.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32700. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32700
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32701. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32701
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32702. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32702
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS.

(備考)B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32703. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32703
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32704. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 31K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32704
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32705. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32705
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)A　　ST.2　　-17　赤6（320）.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32706. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32706
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)B　ST.2.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32707. Cu-0.05Ni, G594, RTNS-II, 450℃, SS, 52K., [1968年10月10日.]

 アイテム
資料番号: O-32707
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G594. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)B　ST.2.

日付: [1968年10月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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