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銅合金

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件名：ソース: Ku Peek

2962 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32770. Cu-2Ni, G737, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32770
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G737. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　　-8.0　黒10（140）.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32771. Cu-2Ni, G737, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32771
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G737. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32772. Cu-2Ni, G737, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32772
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G737. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32773. Cu-2Ni, G737, RTNS-II, 450℃, M, ED., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32773
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G737. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32774. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32774
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　　α　-1.0　黒1（240）.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32775. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32775
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32776. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32776
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32777. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32777
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32778. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32778
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32779. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32779
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32780. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32780
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32781. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32781
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32782. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32782
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32783. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32783
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32784. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, ED., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32784
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32785. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32785
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32786. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, ED., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32786
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32787. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32787
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32788. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32788
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32789. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32789
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　　β　　＋6.5、黒1（140）.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32790. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32790
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　　β.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32791. Cu-0.05Si, G597, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32791
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G597. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　　β.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32792. Cu-2Ni, G557, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32792
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G557. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32793. Cu-2Ni, G557, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32793
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G557. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32794. Cu-2Ni, G557, RTNS-II, 450℃, M, ED., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32794
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G557. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32795. Cu-2Ni, G557, RTNS-II, 450℃, M., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32795
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G557. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32796. Cu-2Ni, G557, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32796
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G557. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32797. Cu-2Ni, G557, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32797
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G557. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32798. Cu-2Ni, G557, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32798
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G557. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32799. Cu-2Ni, G557, RTNS-II, 450℃, M, ED., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32799
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G557. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32800. Cu-2Ni, G557, RTNS-II, 450℃, M, BF, 21K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32800
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G557. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32801. Cu-2Ni, G557, RTNS-II, 450℃, M, ED., [1986年10月11日以降.]

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資料番号: O-32801
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G557. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32802. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

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資料番号: O-32802
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　α　　＋12.6、0（0）.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32803. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

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資料番号: O-32803
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32804. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M., [1986年10月11日以降.]

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資料番号: O-32804
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32805. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

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資料番号: O-32805
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32806. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

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資料番号: O-32806
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32807. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

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資料番号: O-32807
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C　α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32808. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

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資料番号: O-32808
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32809. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

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資料番号: O-32809
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32810. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M, ED., [1986年10月11日以降.]

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資料番号: O-32810
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32811. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32811
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32812. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32812
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32813. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32813
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M.

(備考)B.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32814. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32814
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M.

(備考)C.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32815. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32815
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M.

(備考)C.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32816. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M, ED., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32816
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32817. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32817
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32818. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32818
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32819. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32819
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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