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銅合金

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件名：ソース: Ku Peek

2962 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32820. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32820
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32821. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32821
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32822. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32822
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32823. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32823
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32824. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32824
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32825. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32825
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32904. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32904
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K.

(備考)ST.1　-22　赤4（40）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32905. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32905
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ST.1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32906. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32906
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32907. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32907
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32908. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32908
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32909. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32909
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ST.1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32910. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32910
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.2　-26　赤10（40）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32911. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32911
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.2　.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32912. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32912
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.2　.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32913. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32913
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ST.2　.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32914. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32914
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.1と同じ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32915. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32915
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.1と同じ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32916. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32916
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)ST.1と同じ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32917. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32917
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)ST.1と同じ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32918. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32918
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ST.1と同じ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32919. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32919
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32920. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32920
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32921. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32921
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)コンタミ.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32922. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32922
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32923. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32923
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32924. Cu-2Ni, G735, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-32924
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G735. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33079. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33079
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (EM/D3)EM. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)0、赤18（100）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33080. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33080
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33081. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33081
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33082. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33082
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33083. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33083
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33084. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33084
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33085. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33085
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33086. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

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資料番号: O-33086
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0（4.5）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33087. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

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資料番号: O-33087
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33088. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

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資料番号: O-33088
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)下14　赤14（200）.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33089. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

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資料番号: O-33089
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33090. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

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資料番号: O-33090
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33091. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33091
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33092. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, 52K., [1986年10月12日.]

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資料番号: O-33092
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33093. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33093
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33094. Cu-2S, G555, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33094
範囲と内容

(試料)Cu-2S. (試料番号)G555. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33113. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33113
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33114. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33114
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33115. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33115
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33116. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33116
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33117. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33117
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33118. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33118
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33119. Cu-2Ni, G744, RTNS-II, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33119
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G744. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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