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銅合金

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件名：ソース: Ku Peek

2962 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33718. Cu-2Sn, G676, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33718
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G676. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33719. Cu-2Sn, G676, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33719
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G676. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)FC＋3.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33720. Cu-2Sn, G676, RTNS-II, 200℃, S, DF, 101K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33720
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G676. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)101K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)FC＋3.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33721. Cu-2Sn, G676, RTNS-II, 200℃, S, DF, 102K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33721
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G676. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)102K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)FC＋4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33722. Cu-2Sn, G676, RTNS-II, 200℃, S, DF, 103K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33722
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G676. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)103K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)FC＋4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33723. Cu-2Sn, G676, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33723
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G676. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33724. Cu-2Sn, G676, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33724
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G676. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)　st.2　-2　黒2（260）.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33725. Cu-2Sn, G676, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33725
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G676. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33726. Cu-2Sn, G676, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33726
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G676. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33727. Cu-2Sn, G676, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33727
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G676. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33728. Cu-2Sn, G676, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33728
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G676. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33729. Cu-2Sn, G676, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33729
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G676. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)同じ視野.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33730. Cu-2Sn, G676, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33730
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G676. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)同じ視野.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33731. Cu-2Sn, G676, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33731
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G676. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)同じ視野.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33732. Cu-2Sn, G676, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33732
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G676. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

(備考)同じ視野.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33733. Cu-2Sn, G676, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33733
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G676. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)F.C＋3　　同じ視野.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33734. Cu-2Sn, G676, RTNS-II, 200℃, S, BF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33734
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G676. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)同じ視野.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33735. Cu-2Sn, G676, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33735
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G676. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)EDはst.1近く.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33736. Cu-2Sn, G676, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33736
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G676. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33737. Cu-2Sn, G676, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33737
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)G676. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33738. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33738
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1　＋8赤1(290).

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33739. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33739
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33740. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33740
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33741. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33741
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)FC＋4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33742. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33742
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33743. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33743
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)FC＋4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33744. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33744
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33745. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33745
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2　＋7黒6（240）.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33746. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33746
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)FC＋4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33747. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33747
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33748. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33748
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)FC＋4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33749. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33749
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33750. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33750
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33751. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33751
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)FC＋5.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33752. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, ED., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33752
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33753. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, BF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33753
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33754. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33754
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33755. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33755
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33756. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33756
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33757. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33757
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33758. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33758
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)FC＋3　　上でステレオとった視野.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33759. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33759
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)上でステレオとった視野.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33760. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33760
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋3　　上でステレオとった視野.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33761. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33761
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33762. Cu-2Ge, G616, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33762
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)G616. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33763. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33763
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1　-14黒　2（220）.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33764. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33764
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33765. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33765
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33766. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33766
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)FC＋4.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33767. Cu-0.3Sn, G696, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33767
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (試料番号)G696. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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