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銅合金

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件名：ソース: Ku Peek

2962 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44985. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44985
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44986. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44986
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

(備考)st.2　＋8黒6（0）.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44987. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44987
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44988. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44988
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大～中.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44989. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44989
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44990. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44990
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-44991. Cu-0.3Si, G382　last, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月20日.]

 アイテム
資料番号: O-44991
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G382　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45034. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45034
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45035. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45035
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45036. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45036
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45037. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45037
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45038. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45038
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45039. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45039
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45040. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45040
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)ｓ中.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45041. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45041
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45042. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45042
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1　-11黒10（200）.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45043. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45043
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45044. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45044
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45045. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45045
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45046. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45046
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45047. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45047
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45048. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45048
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45049. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45049
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45050. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45050
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)st.2　-10黒2（200）.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45051. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45051
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45052. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45052
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45053. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, DF, 52K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45053
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45054. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, DF, 100K., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45054
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大大.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45055. Cu-0.05Sn, G482 last, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月21日.]

 アイテム
資料番号: O-45055
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (試料番号)G482 last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月21日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45937. Cu-2Ni, G261fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45937
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)G261fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上9.5（-）赤6（120）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45938. Cu-2Ni, G261fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45938
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G261fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45939. Cu-2Ni, G261fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45939
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G261fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45940. Cu-2Ni, G261fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45940
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G261fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45941. Cu-2Ni, G261fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45941
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G261fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45942. Cu-2Ni, G261fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45942
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G261fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45943. Cu-2Ni, G261fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45943
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G261fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45944. Cu-2Ni, G261fin, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年10月19日.]

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資料番号: O-45944
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G261fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45945. Cu-2Ni, G261fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45945
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G261fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上10（-）赤6（120）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45946. Cu-2Ni, G261fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45946
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G261fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45947. Cu-2Ni, G261fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45947
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G261fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45948. Cu-2Ni, G261fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45948
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G261fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45949. Cu-2Ni, G261fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45949
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G261fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45950. Cu-2Ni, G261fin, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45950
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G261fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45951. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45951
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上6.5（-）黒7（250）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45952. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45952
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45953. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45953
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45954. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45954
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45955. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45955
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45956. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45956
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0（5）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45957. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45957
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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