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銅合金

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件名：ソース: Ku Peek

2962 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45958. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45958
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上4.5（-）黒8（240）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45959. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45959
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45960. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45960
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45961. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45961
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45962. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45962
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45963. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45963
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0（4）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45964. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45964
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45965. Cu-2Ge, G112fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45965
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)G112fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下3.5（＋）赤4（60）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45966. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45966
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45967. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45967
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45968. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45968
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45969. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45969
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45970. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45970
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45971. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45971
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45972. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45972
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45973. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45973
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下3.（＋）赤4（60）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45974. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45974
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45975. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45975
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45976. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45976
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45977. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45977
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45978. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45978
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45979. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45979
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0（4）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45980. Cu-2Si, G407fin, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45980
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G407fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45981. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45981
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下1.5（＋）赤5（180）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45982. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45982
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45983. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45983
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45984. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45984
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45985. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45985
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45986. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45986
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45987. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45987
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45988. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45988
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45989. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45989
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下1.5（＋）赤4（160）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45990. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45990
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45991. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45991
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45992. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45992
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45993. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

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資料番号: O-45993
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45994. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 52K., [1987年10月19日.]

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資料番号: O-45994
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45995. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45995
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45996. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, 100K., [1987年10月19日.]

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資料番号: O-45996
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0（4）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45997. Cu-2Sn, fin, RTNS-II, 350℃, SS, ED., [1987年10月19日.]

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資料番号: O-45997
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45998. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 52K., [1987年10月19日.]

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資料番号: O-45998
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)52K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45999. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-45999
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　下5.5（＋）黒11（340）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46000. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46000
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46001. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46001
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46002. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46002
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46003. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46003
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＜＜0.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46004. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46004
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46005. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 52K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46005
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46006. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46006
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46007. Cu-0.05Si, G343fin, RTNS-II, 350℃, W, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46007
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (試料番号)G343fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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