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銅合金

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件名：ソース: Ku Peek

2962 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46058. Cu-0.05Ge, G034fin, RTNS-II, 350℃, W, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46058
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)G034fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46059. Cu-0.05Ge, G034fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46059
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)G034fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下1.5（＋）黒1（220）.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46060. Cu-0.05Ge, G034fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46060
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)G034fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46061. Cu-0.05Ge, G034fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46061
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)G034fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46062. Cu-0.05Ge, G034fin, RTNS-II, 350℃, W, 100K., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46062
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)G034fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-46063. Cu-0.05Ge, G034fin, RTNS-II, 350℃, W, ED., [1987年10月19日.]

 アイテム
資料番号: O-46063
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (試料番号)G034fin. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃. (照射量)W. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年10月19日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49844. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49844
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49845. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, BF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49845
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49846. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49846
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49847. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49847
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)直ぐ隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49848. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49848
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49849. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49849
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49850. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49850
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49851. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49851
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　（110）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49852. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49852
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49853. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, BF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49853
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)voidなし.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49854. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49854
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49855. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49855
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)直ぐ隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49856. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49856
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)直ぐ隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49857. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49857
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49858. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49858
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49859. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49859
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49860. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49860
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49861. Cu-2Ni, RTNS-II, 350℃ , S, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49861
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　（100）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49862. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49862
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49863. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, BF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49863
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49864. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49864
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49865. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49865
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)すぐ隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49866. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49866
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)さらに隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49867. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49867
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49868. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49868
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49869. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49869
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49870. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49870
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49871. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49871
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)（110）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49872. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

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資料番号: O-49872
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上と同じ傾き　Twinと思われる.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49873. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

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資料番号: O-49873
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)場所は離れている.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49874. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

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資料番号: O-49874
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49875. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

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資料番号: O-49875
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49876. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

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資料番号: O-49876
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49877. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

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資料番号: O-49877
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49878. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, ED., [1988年3月20日以降.]

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資料番号: O-49878
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49879. Cu-2Ge, RTNS-II, 350℃ , S’, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49879
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S’. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49880. Cu-2Si, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49880
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)厚い　再研磨.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49881. Cu-2Si, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49881
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49882. Cu-2Si, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49882
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49883. Cu-2Si, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49883
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49884. Cu-2Si, RTNS-II, 350℃ , S, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49884
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49885. Cu-2Si, RTNS-II, 350℃ , S, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49885
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)350℃ . (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50313. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50313
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D3.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50314. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, 350℃, M, BF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50314
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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