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銅合金

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件名：ソース: Ku Peek

2962 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50315. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50315
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50316. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50316
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)直ぐ隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50317. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50317
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)逆隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50318. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50318
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50319. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50319
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50320. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50320
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)直ぐ隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50321. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50321
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50322. Cu-2Sn, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50322
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50323. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50323
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D3.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50324. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, BF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50324
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50325. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50325
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50326. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50326
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50327. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50327
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50328. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50328
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50329. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50329
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50330. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50330
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)隣.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50331. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 100K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50331
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50332. Cu-2Si, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50332
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50333. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50333
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50334. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50334
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50335. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50335
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50336. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50336
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50337. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50337
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50338. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50338
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50339. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, DF, 52K., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50339
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-50340. Cu-2Ni, RTNS-IIFin, 350℃, M, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-50340
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-IIFin. (照射温度)350℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56409. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56409
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)Grainが小さい　GB近い.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56410. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, BF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56410
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56411. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56411
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56412. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56412
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56413. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56413
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56414. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 210K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56414
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)別の視野.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56415. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 210K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56415
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56416. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 210K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56416
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56417. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 210K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56417
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56418. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56418
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56419. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56419
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)別のgrain.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56420. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, BF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56420
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56421. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56421
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56422. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56422
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56423. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, ED., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56423
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56424. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56424
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56425. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56425
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56426. Cu-2Si, G762, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56426
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)G762. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56427. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56427
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)D3. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56428. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, BF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56428
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56429. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56429
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56430. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56430
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56431. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 100K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56431
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56432. Cu-2Ni, G702, RTNS-II, 90℃, DF, 210K., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-56432
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (試料番号)G702. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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