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銅合金

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件名：ソース: Ku Peek

2962 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56583. Cu-2Sn, RTNS-II, 90℃, S2, DF, 210K., [1989年6月9日以降.]

 アイテム
資料番号: O-56583
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)210K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年6月9日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-56584. Cu-2Sn, RTNS-II, 90℃, S2, ED., [1989年6月9日以降.]

 アイテム
資料番号: O-56584
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)90℃. (照射量)S2. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年6月9日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58294. Cu-2Sn, JMTR controlled, 400℃, BF, 42K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58294
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58295. Cu-2Sn, JMTR controlled, 400℃, BF, 42K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58295
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58296. Cu-0.05Si, JMTR controlled, 400℃, BF, 52K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58296
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58297. Cu-0.05Si, JMTR controlled, 400℃, BF, 52K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58297
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58298. Cu-0.05Si, JMTR controlled, 400℃, DF, 52K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58298
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Si. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58299. Cu-10Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 42K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58299
範囲と内容

(試料)Cu-10Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1 -9黒13.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58300. Cu-10Ni, JMTR controlled, 400℃, BF, 42K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58300
範囲と内容

(試料)Cu-10Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58301. Cu-10Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 42K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58301
範囲と内容

(試料)Cu-10Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58302. Cu-10Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 42K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58302
範囲と内容

(試料)Cu-10Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.1.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58303. Cu-10Ni, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58303
範囲と内容

(試料)Cu-10Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)st.1.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58304. Cu-10Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 42K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58304
範囲と内容

(試料)Cu-10Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2　-12黒20.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58305. Cu-10Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 42K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58305
範囲と内容

(試料)Cu-10Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58306. Cu-10Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 42K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58306
範囲と内容

(試料)Cu-10Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58307. Cu-10Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 42K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58307
範囲と内容

(試料)Cu-10Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58308. Cu-10Ni, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58308
範囲と内容

(試料)Cu-10Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58309. Cu-10Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58309
範囲と内容

(試料)Cu-10Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58310. Cu-10Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58310
範囲と内容

(試料)Cu-10Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)FC＋8.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58311. Cu-10Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58311
範囲と内容

(試料)Cu-10Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)just.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58312. Cu-0.3Ni, JMTR controlled, 400℃, BF, 42K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58312
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58313. Cu-0.3Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 42K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58313
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58314. Cu-0.3Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 42K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58314
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K.

(備考)　-10FC.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58315. Cu-0.3Ni, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58315
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58316. Cu-2Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 42K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58316
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58317. Cu-2Ni, JMTR controlled, 400℃, BF, 42K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58317
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58318. Cu-2Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 42K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58318
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58319. Cu-2Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 42K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58319
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58320. Cu-2Ni, JMTR controlled, 400℃, DF, 42K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58320
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58321. Cu-2Ni, JMTR controlled, 400℃, ED., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58321
範囲と内容

(試料)Cu-2Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58322. Cu-0.05Ni, JMTR controlled, 400℃, BF, 42K., [1989年8月29日.]

 アイテム
資料番号: O-58322
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K. (ブラック条件からのずれs)s～0.

日付: [1989年8月29日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58323. Cu-2Ge, JMTR controlled, 400℃, BF, 16K., [19]'89 8. 30.

 アイテム
資料番号: O-58323
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)17881に対応　-6赤5. 日付元記載「'89 8. 30.」.

日付: [19]'89 8. 30.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58431. Cu-2Si, BF, 1K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58431
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)1K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58432. Cu-2Si, BF, 21K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58432
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58433. Cu-2Si, BF, 52K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58433
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58434. Cu-2Si, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58434
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58435. Cu-0.3Sn, BF, 21K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58435
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58436. Cu-0.3Sn, BF, 52K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58436
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58437. Cu-0.3Sn, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58437
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58438. Cu-0.3Sn, BF, 52K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58438
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Sn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58439. Cu-0.05Ge, BF, 21K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58439
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)参加厚膜　2cmat　2万1千.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58440. Cu-0.05Ge, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58440
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58441. Cu-0.05Ge, BF, 52K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58441
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58442. Cu-0.05Ge, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58442
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ge. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58443. Cu-0.05Sn, BF, 51K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58443
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)51K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58444. Cu-0.05Sn, BF, 21K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58444
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58445. Cu-0.05Sn, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58445
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Sn. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58446. Cu-0.3Ge, BF, 52K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58446
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58447. Cu-0.3Ge, BF, 52K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58447
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58448. Cu-0.3Ge, BF, 52K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58448
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Ge. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)FC＋8.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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