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銅合金

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件名：ソース: Ku Peek

2962 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28463. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28463
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28464. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28464
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28465. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28465
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28466. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28466
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28467. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28467
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28468. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28468
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28469. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28469
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28470. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28470
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28471. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28471
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28472. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28472
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28473. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28473
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28474. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28474
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28475. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28475
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28476. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28476
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28477. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28477
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28478. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, BF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28478
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)フイルム入れ替え.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28479. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28479
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28480. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28480
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28481. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28481
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28482. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28482
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28483. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28483
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)完.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28484. Cu-2Sn, G671, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28484
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)G671. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28485. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28485
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28486. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28486
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28487. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28487
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28488. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28488
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28489. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28489
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28490. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28490
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28491. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28491
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28492. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28492
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28493. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DE, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28493
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28494. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DE, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28494
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28495. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DE, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28495
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28496. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DE, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28496
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28497. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DE, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28497
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28498. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28498
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28499. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28499
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28500. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28500
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28501. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28501
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28502. Cu-2Si, G551, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28502
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)G551. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28514. Cu2Ni, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28514
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28515. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28515
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28516. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28516
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28517. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28517
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28518. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28518
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28519. Cu2Ni, 200℃, SS, ED., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28519
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28520. Cu2Ni, 200℃, SS, BF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28520
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28521. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28521
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28522. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 52K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28522
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28523. Cu2Ni, 200℃, SS, DF, 100K., [1986年8月1日.]

 アイテム
資料番号: O-28523
範囲と内容

(試料)Cu2Ni. (EM/D3)EM. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1986年8月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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