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ニッケル合金

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件名：ソース: Ku Peek

2219 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60431. Ni-2Cu, RTNS-II, 290(Hin), SS, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60431
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)31,32は組.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60453. Ni-2Cu, RTNS-II, 290(Hin), M, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60453
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)M. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)g＝200.

(備考)β.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60481. Ni-2Cu, RTNS-II, 290(Hin), W., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60481
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)W.

(備考)200.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-60485. Ni-2Cu, RTNS-II, 290(Hin), WW, BF., [1990年11月13日.]

 アイテム
資料番号: L-60485
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290(Hin). (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1990年11月13日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15035. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 52K., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15035
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15036. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15036
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15037. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15037
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15038. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15038
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15039. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15039
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15040. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15040
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15041. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15041
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15042. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15042
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15043. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15043
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15044. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15044
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15045. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15045
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15046. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15046
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15047. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15047
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15048. Ni-2Ge, D502, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15048
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)D502. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15049. Ni-2Si, R277, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15049
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15050. Ni-2Si, R277, RTNS-II, 150℃, SS, DF, 100K., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15050
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15051. Ni-2Si, R277, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15051
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15052. Ni-2Si, R277, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15052
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15053. Ni-2Si, R277, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15053
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15054. Ni-2Si, R277, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15054
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15055. Ni-2Si, R277, RTNS-II, 150℃, SS, ED., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15055
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15056. Ni-2Si, R277, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15056
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15057. Ni-2Si, R277, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15057
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15058. Ni-2Si, R277, RTNS-II, 150℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15058
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R277. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15059. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15059
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15060. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15060
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15061. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15061
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15062. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15062
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15063. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15063
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15064. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15064
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15065. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15065
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15066. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, ED., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15066
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15067. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

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資料番号: O-15067
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15068. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

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資料番号: O-15068
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15069. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

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資料番号: O-15069
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　　α　　＋9.2　1（120）赤.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15070. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

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資料番号: O-15070
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　α.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15071. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, ED., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15071
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ミス.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15072. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, ED., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15072
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　　　α.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15073. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15073
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　　β　　　＋2.5　7（160）赤.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15074. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15074
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B　　β.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15075. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, ED., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15075
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)ミス　β.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15076. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, ED., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15076
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　　　β.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15077. Ni-2Si, R276, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15077
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)R276. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0　.

(備考)　　　β.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15078. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15078
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15079. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15079
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-15080. Ni-2Ge, R501, RTNS-II, 60℃, SS, DF., [1985年11月28日.]

 アイテム
資料番号: O-15080
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)R501. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)60℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1985年11月28日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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