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ニッケル合金

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件名：ソース: Ku Peek

2219 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54515. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, ED., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54515
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54516. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, BF, 210K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54516
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)210K.

(備考)→ｇ.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54517. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, ED., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54517
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54518. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, BF, 210K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54518
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)210K.

(備考)←ｇ.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54519. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, ED., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54519
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54520. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF, 100K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54520
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54521. Ni-2Si, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF, 100K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54521
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54522. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, BF, 52K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54522
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)①. 日付元記載「1/31」.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54523. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF, 52K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54523
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)①.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54524. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF, 52K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54524
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

(備考)①.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54525. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF, 52K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54525
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)①.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54526. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, BF, 52K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54526
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　①.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54527. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, BF, 52K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54527
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　①.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54528. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, BF, 52K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54528
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　①.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54529. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, BF, 52K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54529
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)D　①.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54530. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, BF, 52K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54530
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)E　GBのそば　①.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54531. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, BF, 52K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54531
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A　②.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54532. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, BF, 52K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54532
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　②.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54533. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, BF, 52K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54533
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　②.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54534. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, BF, 52K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54534
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)D　②.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54535. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, BF, 52K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54535
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)E　GBのそば　②.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54536. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, ED., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54536
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)②.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54537. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, BF, 52K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54537
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54538. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, BF, 100K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54538
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54539. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF, 100K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54539
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54540. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF, 31K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54540
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54541. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF, 31K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54541
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54542. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF, 100K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54542
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54543. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF, 100K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54543
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54544. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF, 100K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54544
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54545. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF, 31K., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54545
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54546. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, BF., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54546
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)Void contrast　白-＞黒.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54547. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF., [1989年]1/31.

 アイテム
資料番号: O-54547
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54548. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF., [1989年]1/31.

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資料番号: O-54548
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54549. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF., [1989年]1/31.

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資料番号: O-54549
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54550. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF., [1989年]1/31.

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資料番号: O-54550
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54551. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, DF., [1989年]1/31.

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資料番号: O-54551
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54552. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 300℃, 11, ED., [1989年]1/31.

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資料番号: O-54552
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年]1/31.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54577. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11., [1989年1月31日.]

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資料番号: O-54577
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54578. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11., [1989年1月31日.]

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資料番号: O-54578
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54579. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11., [1989年1月31日.]

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資料番号: O-54579
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54580. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11., [1989年1月31日.]

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資料番号: O-54580
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54581. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11., [1989年1月31日.]

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資料番号: O-54581
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54582. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54582
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54583. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54583
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54584. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11, BF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54584
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54585. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11, BF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54585
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54586. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11, BF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54586
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54587. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11, BF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54587
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-54588. Ni-2Ge, JMTR uncontrolled, 290℃, 11, BF., [1989年1月31日.]

 アイテム
資料番号: O-54588
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)290℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年1月31日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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