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ニッケル合金

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件名：ソース: Ku Peek

2219 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57822. Ni-0.05Ge, JMTR, 11, BF., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57822
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57823. Ni-0.05Ge, JMTR, 11, BF., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57823
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57824. Ni-0.05Ge, JMTR, 11, BF., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57824
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57825. Ni-0.05Ge, JMTR, 11, BF., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57825
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57826. Ni-0.05Ge, JMTR, 11, BF., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57826
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57827. Ni-0.05Ge, JMTR, 11, BF, LM　100., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57827
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)LM　100.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57828. Ni-0.05Ge, JMTR, 11, BF, LM　100., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57828
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)LM　100.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57829. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57829
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57830. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 21K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57830
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57831. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 21K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57831
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57832. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 21K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57832
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57833. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 21K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57833
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部へ.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57834. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57834
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57835. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57835
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)内部は.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57836. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57836
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)void.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57837. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57837
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)内部void.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57838. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57838
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57839. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57839
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)内部.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57840. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 160K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57840
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)160K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57841. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57841
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)内部.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57842. Ni-0.05Si, JMTR, 01, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57842
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57843. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 80K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57843
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)void.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57844. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57844
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57845. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57845
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57846. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57846
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57847. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57847
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57848. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57848
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57849. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57849
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57850. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57850
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大中.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57851. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 21K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57851
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57852. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57852
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57853. Ni-0.05Si, JMTR, 01, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57853
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57854. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 21K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57854
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57855. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57855
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57856. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57856
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57857. Ni-0.05Si, JMTR, 01, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57857
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57858. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57858
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57859. Ni-0.05Si, JMTR, 01, ED., [1989年7月24日.]

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資料番号: O-57859
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57860. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

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資料番号: O-57860
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)GBのボイド.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57861. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

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資料番号: O-57861
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57862. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

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資料番号: O-57862
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57863. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

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資料番号: O-57863
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57864. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

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資料番号: O-57864
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57865. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

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資料番号: O-57865
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57866. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57866
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57867. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57867
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57868. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57868
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57869. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57869
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57870. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57870
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

(備考)GB近くにループいるかどうかははっきりしない.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57871. Ni-0.05Ge, JMTR, 11, DF., [1989年7月24日.]

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資料番号: O-57871
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)EM　一回研磨後　連続研磨.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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