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ニッケル合金

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件名：ソース: Ku Peek

2219 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61057. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61057
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61058. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61058
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61059. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61059
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61060. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61060
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61061. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61061
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61062. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61062
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61063. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61063
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61064. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61064
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61065. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61065
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61066. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61066
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61067. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61067
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61068. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61068
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61069. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61069
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (反射ベクトルg)400. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61070. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61070
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)400.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61071. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61071
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)析出スポットチェック.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61072. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61072
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61073. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61073
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61074. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61074
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61075. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, DF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61075
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)220.

(備考)a.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61076. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61076
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)220.

(備考)a.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61077. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, DF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61077
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)220.

(備考)b.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61078. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61078
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)220.

(備考)b.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61079. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, DF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61079
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)440.

(備考)A.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61080. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61080
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)440.

(備考)A.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61081. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, DF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61081
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)111.

(備考)c.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61082. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61082
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)111.

(備考)c.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61083. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, DF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61083
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)111.

(備考)d.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61084. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61084
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)111.

(備考)d.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61085. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, DF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61085
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)222.

(備考)D.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61086. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61086
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)222.

(備考)D.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61087. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, DF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61087
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)111.

(備考)e.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61088. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61088
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)111.

(備考)e.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61089. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61089
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)ｆ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61090. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61090
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ｆ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61091. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61091
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)ｆ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61092. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61092
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)200.

(備考)ｆ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61093. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, DF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61093
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)220.

(備考)ｇ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61094. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61094
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)220.

(備考)ｇ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61095. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, DE., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61095
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DE. (反射ベクトルg)220.

(備考)ｈ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61096. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61096
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)220.

(備考)ｈ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61242. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61242
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61243. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61243
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61244. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61244
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61245. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61245
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61246. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 100K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61246
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61247. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, DF, 52K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61247
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61248. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61248
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61249. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61249
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61250. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61250
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61251. Ni-2Sn, JMTR controlled　, 400℃, C-12, BF, 8K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61251
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR controlled　. (照射温度)400℃. (照射量)C-12. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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