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ニッケル合金

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件名：ソース: Ku Peek

2219 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82699. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82699
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)転位.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82700. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82700
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82701. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82701
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82702. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82702
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82703. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82703
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82704. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82704
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82705. Ni-0.3Si, JMTRcontrolled, 400℃, ED., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82705
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82706. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82706
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)日付元記載「91. 9. 20」. 実験者元記載「（円の中に）浜田」.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82707. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82707
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82708. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82708
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82709. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82709
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82710. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82710
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82711. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82711
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82712. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82712
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82713. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82713
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82714. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82714
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82715. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82715
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82716. Ni-0.05Si, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82716
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82717. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82717
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「91. 9. 20」. 実験者元記載「（円の中に）浜田」.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82718. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82718
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82719. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82719
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82720. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82720
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82721. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82721
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82722. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82722
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82723. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82723
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82724. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82724
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82725. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82725
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82726. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82726
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82727. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82727
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82728. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82728
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82729. Ni-0.3Sn, JMTRcontrolled, 400℃, ED., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82729
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82730. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82730
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「91. 9. 20」. 実験者元記載「浜田」.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82731. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82731
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82732. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82732
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82733. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82733
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82734. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82734
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド　　広げてピント.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82735. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82735
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド　　絞ってピント.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82736. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82736
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)転位.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82737. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82737
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)転位.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82738. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82738
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82739. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82739
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82740. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, BF, 21K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82740
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82741. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, DF, 11K., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82741
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

(備考)GB.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-82742. Ni-0.05Sn, JMTRcontrolled, 400℃, ED., [19]91. 9. 20.

 アイテム
資料番号: O-82742
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTRcontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]91. 9. 20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84484. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, BF, 16K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84484
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

(備考)ABC　grain方向依存あり.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84485. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, BF, 16K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84485
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

(備考)ABC　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84486. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, BF, 16K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84486
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)16K.

(備考)ABC　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84487. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84487
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A　傾き（0,0）の方向.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84488. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84488
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84489. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84489
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)C.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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