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ニッケル合金

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件名：ソース: Ku Peek

2219 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23877. Ni-2Sn, A882, RTNS-II, 290℃, DF, 100K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23877
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A882. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (反射ベクトルg)111.

(備考)①.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-23878. Ni-2Sn, A882, RTNS-II, 290℃, DF, 100K., [1986年6月18日.]

 アイテム
資料番号: O-23878
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A882. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)②.

日付: [1986年6月18日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28156. Ni-2Si, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28156
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28157. Ni-2Si, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28157
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)contami　　多い.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28158. Ni-2Si, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28158
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28159. Ni-2Si, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28159
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28160. Ni-2Si, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28160
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28161. Ni-2Si, 450℃, SS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28161
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28162. Ni-2Si, 450℃, SS., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28162
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28163. Ni-2Sn, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28163
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)表面やられてる.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28164. Ni-2Sn, 450℃, SS, BF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28164
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28165. Ni-2Cu, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28165
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)酸化膜.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28166. Ni-2Cu, 450℃, SS, BF, 42K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28166
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28167. Ni-2Ge, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28167
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28168. Ni-2Ge, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28168
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28169. Ni-2Ge, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28169
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)① α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28170. Ni-2Ge, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28170
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)②　 α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28171. Ni-2Ge, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28171
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)③　 α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28172. Ni-2Ge, 450℃, SS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28172
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28173. Ni-2Ge, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28173
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28174. Ni-2Ge, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28174
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28175. Ni-2Ge, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28175
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28176. Ni-2Ge, 450℃, SS, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28176
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28177. Ni-2Ge, 450℃, SS, DF, 100K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28177
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28388. Ni-2Cu, A710, 290℃, M, DF, 21K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28388
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0, 200.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28389. Ni-2Cu, A710, 290℃, M, DF, 21K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28389
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)①.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28390. Ni-2Cu, A710, 290℃, M, DF, 21K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28390
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)②.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28391. Ni-2Cu, A710, 290℃, M, DF, 21K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28391
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)③.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28392. Ni-2Cu, A710, 290℃, M, DF, 21K., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28392
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)④.

(備考)α.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28393. Ni-2Cu, A710, 290℃, M, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28393
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28394. Ni-2Cu, A710, 290℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28394
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)①.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28395. Ni-2Cu, A710, 290℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28395
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)②.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28396. Ni-2Cu, A710, 290℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28396
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)③.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28397. Ni-2Cu, A710, 290℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28397
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)④.

(備考)β.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28398. Ni-2Cu, A710, 290℃, M, ED, 57cm., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28398
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)57cm.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28399. Ni-2Cu, A710, 290℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28399
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (反射ベクトルg)逆g200. (ブラック条件からのずれs)①.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28400. Ni-2Cu, A710, 290℃, M., [1986年7月31日以降.]

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資料番号: O-28400
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)②.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28401. Ni-2Cu, A710, 290℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28401
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)③.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28402. Ni-2Cu, A710, 290℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28402
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)④.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28403. Ni-2Cu, A710, 290℃, M, ED., [1986年7月31日以降.]

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資料番号: O-28403
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28404. Ni-2Cu, A710, 290℃, M., [1986年7月31日以降.]

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資料番号: O-28404
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)①.

(備考)γ.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28405. Ni-2Cu, A710, 290℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28405
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)②.

(備考)γ.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28406. Ni-2Cu, A710, 290℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28406
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)③.

(備考)γ.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28407. Ni-2Cu, A710, 290℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28407
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)④.

(備考)γ.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28408. Ni-2Cu, A710, 290℃, M, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28408
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)γ.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28409. Ni-2Cu, A710, 290℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28409
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)①.

(備考)δ.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28410. Ni-2Cu, A710, 290℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28410
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)②.

(備考)δ.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28411. Ni-2Cu, A710, 290℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28411
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)③.

(備考)δ.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28412. Ni-2Cu, A710, 290℃, M., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28412
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)④.

(備考)δ.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-28413. Ni-2Cu, A710, 290℃, M, ED., [1986年7月31日以降.]

 アイテム
資料番号: O-28413
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A710. (照射温度)290℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)δ.

日付: [1986年7月31日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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