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ニッケル合金

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件名：ソース: Ku Peek

2219 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84490. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84490
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84491. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84491
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84492. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84492
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84493. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, BF, 11K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84493
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84494. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, BF, 21K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84494
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84495. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84495
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84496. Ni-2Ge, A707, JMTRcycle-II, A, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84496
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A707. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)A. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)傾き（0,0）β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84534. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, BF, 8K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84534
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84535. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, BF, 8K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84535
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84536. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, BF, 5.3K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84536
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

(備考)α　-17赤3-6（60）同grain.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84537. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84537
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84538. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84538
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84539. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84539
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84540. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84540
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84541. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84541
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84542. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, BF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84542
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)α　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84543. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84543
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)α　.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84544. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84544
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β-5.5赤3-6（240）.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84545. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84545
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84546. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84546
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84547. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84547
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84548. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84548
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84549. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84549
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84550. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84550
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84551. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84551
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α-2.5赤18-24（120）.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84552. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84552
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B.

(備考)ボツ.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84553. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84553
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84554. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84554
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84555. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, BF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84555
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α領域.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84556. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, BF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84556
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α領域.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84557. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, BF, 11K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84557
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)α領域.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84558. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84558
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α領域.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84559. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 100K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84559
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β＋11.5赤12-15（240）.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84560. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 52K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84560
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84561. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, DF, 31K., [1992年5月26日.]

 アイテム
資料番号: O-84561
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84562. Ni-2Ge, JMTRcycle-II, B, ED., [1992年5月26日.]

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資料番号: O-84562
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (照射条件)JMTRcycle-II. (照射量)B. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年5月26日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84985. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]6/29.

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資料番号: O-84985
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α. 日付元記載「6/29」.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84986. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]6/29.

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資料番号: O-84986
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84987. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]6/29.

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資料番号: O-84987
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84988. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]6/29.

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資料番号: O-84988
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84989. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]6/29.

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資料番号: O-84989
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84990. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]6/29.

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資料番号: O-84990
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84991. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, ED., [1992年]6/29.

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資料番号: O-84991
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84992. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-84992
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84993. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]6/29.

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資料番号: O-84993
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84994. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]6/29.

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資料番号: O-84994
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84995. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-84995
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84996. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-84996
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84997. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-84997
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)別の面　α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84998. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-84998
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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