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ニッケル合金

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件名：ソース: Ku Peek

2219 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-84999. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-84999
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85000. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85000
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85001. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, ED., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85001
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85002. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85002
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85003. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85003
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85004. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85004
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)ボツ.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85005. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85005
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85006. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85006
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85007. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85007
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85008. Ni-0.3Cu, A052, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85008
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A052. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85009. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85009
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)D3. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α. 日付元記載「6/29」.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85010. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85010
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85011. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85011
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85012. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85012
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85013. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, ED., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85013
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85014. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85014
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85015. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85015
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85016. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85016
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85017. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85017
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85018. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85018
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85019. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85019
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　別の面.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85020. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85020
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85021. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, BF, 100K？., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85021
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K？. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85022. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85022
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85023. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85023
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85024. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, ED., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85024
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85025. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85025
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85026. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85026
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85027. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85027
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85028. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85028
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85029. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 100K？., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85029
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K？. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85030. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85030
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85031. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]6/29.

 アイテム
資料番号: O-85031
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85032. Ni-0.3Cu, A521, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]6/29.

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資料番号: O-85032
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A521. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)別.

日付: [1992年]6/29.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85035. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/1.

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資料番号: O-85035
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α. 日付元記載「7/1」.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85036. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/1.

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資料番号: O-85036
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85037. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/1.

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資料番号: O-85037
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85038. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

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資料番号: O-85038
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85039. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

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資料番号: O-85039
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85040. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

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資料番号: O-85040
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85041. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/1.

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資料番号: O-85041
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85042. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/1.

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資料番号: O-85042
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85043. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/1.

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資料番号: O-85043
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85044. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85044
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85045. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85045
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85046. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85046
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85047. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF？, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85047
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF？. (条件・倍率等)52K.

(備考)ボツ.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85048. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85048
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85049. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85049
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85050. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85050
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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