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ニッケル合金

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件名：ソース: Ku Peek

2219 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85051. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85051
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85052. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85052
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85053. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85053
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85054. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85054
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85055. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85055
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85056. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85056
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85057. Ni-0.3Si, A022, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85057
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A022. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85058. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85058
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)日付元記載「7/1」.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85059. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85059
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85060. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF, 52K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85060
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85061. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85061
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85062. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85062
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-21.3黒1（220）.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85063. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85063
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85064. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85064
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85065. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85065
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85066. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85066
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85067. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85067
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　-13.2赤2（100）.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85068. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85068
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85069. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85069
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85070. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85070
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85071. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85071
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α　-29.0赤3.5（260）.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85072. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85072
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85073. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85073
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85074. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85074
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-25.0赤13（40）.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85075. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85075
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85076. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85076
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85077. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85077
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　-21.5赤12（40）.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85078. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85078
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85079. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85079
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85080. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85080
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85081. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85081
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-26.5赤12（40）？.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85082. Ni-0.3Si, A363, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85082
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A363. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85085. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85085
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋18.2黒13（100）. 日付元記載「7/1」.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85086. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85086
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85087. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85087
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85088. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85088
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85089. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85089
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85090. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85090
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85091. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85091
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　＋21.0黒6（220９.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85092. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85092
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85093. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85093
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85094. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85094
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85095. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85095
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85096. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, BF, 50K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85096
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85097. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85097
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　loop数data.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85098. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, BF, 50K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85098
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85099. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85099
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85100. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85100
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85101. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, DF, 50K., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85101
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　19.3黒13.5（330）.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85102. Ni-0.3Si, A021, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/1.

 アイテム
資料番号: O-85102
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (試料番号)A021. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/1.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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