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ニッケル合金

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件名：ソース: Ku Peek

2219 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85153. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85153
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋36黒12（00）①. 日付元記載「7/3」.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85154. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85154
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α①.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85155. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85155
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード.

(備考)α①.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85156. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85156
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α①.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85157. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85157
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α①.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85158. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85158
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋17　18.2（60）①.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85159. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85159
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β①.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85160. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85160
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β①.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85161. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85161
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β①.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85162. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85162
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　＋18赤6（125）②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85163. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85163
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85164. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85164
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85165. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85165
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85166. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85166
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　＋9　1（60）②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85167. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, DF., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85167
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85168. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85168
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85169. Ni-0.3Ge, A082, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/3.

 アイテム
資料番号: O-85169
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)A082. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β②.

日付: [1992年]7/3.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85170. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, DF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85170
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (EM/D3)EM. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　-22黒24（40）. 日付元記載「7/2」.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85171. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85171
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85172. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85172
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85173. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85173
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85174. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85174
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-30.5黒18.1（320）.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85175. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, BF, 100K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85175
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85176. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85176
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85177. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, BF., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85177
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85178. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85178
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85179. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85179
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＜＜0.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85180. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85180
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85181. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, ED., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85181
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85182. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85182
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-85183. Ni-0.3Cu, A051, JMTR, クラード, BF, 52K., [1992年]7/2.

 アイテム
資料番号: O-85183
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Cu. (試料番号)A051. (照射条件)JMTR. (照射温度)クラード. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1992年]7/2.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86334. Ni-0.05Si, JMTR, 350℃, BF, 11K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86334
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「1992. 10. 23」. 実験者元記載「浜田」.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86335. Ni-0.05Si, JMTR, 350℃, BF, 11K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86335
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86336. Ni-0.05Si, JMTR, 350℃, BF, 11K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86336
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86337. Ni-0.05Si, JMTR, 350℃, BF, 21K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86337
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86338. Ni-0.05Si, JMTR, 350℃, BF, 21K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86338
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)ボイド.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86339. Ni-0.05Si, JMTR, 350℃, DF, 21K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86339
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86340. Ni-0.05Si, JMTR, 350℃, ED., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86340
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86341. Ni-0.3Si, JMTR, 350℃, BF, 21K., [1992年10月23日.]

 アイテム
資料番号: O-86341
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1992年10月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86342. Ni-0.3Si, JMTR, 350℃, BF, 21K., [1992年10月23日.]

 アイテム
資料番号: O-86342
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1992年10月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86343. Ni-0.3Si, JMTR, 350℃, BF, 21K., [1992年10月23日.]

 アイテム
資料番号: O-86343
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Si. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)試料がダメ.

日付: [1992年10月23日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86344. Ni-0.05Sn, JMTR, 350℃, BF, 11K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86344
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「1992. 10. 23」. 実験者元記載「浜田」.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86345. Ni-0.05Sn, JMTR, 350℃, BF, 21K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86345
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86346. Ni-0.05Sn, JMTR, 350℃, BF, 21K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86346
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)ボイド.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86347. Ni-0.05Sn, JMTR, 350℃, BF, 21K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86347
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86348. Ni-0.05Sn, JMTR, 350℃, BF, 21K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86348
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)GB.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86349. Ni-0.05Sn, JMTR, 350℃, BF, 21K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86349
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)GB.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86350. Ni-0.05Sn, JMTR, 350℃, BF, 42K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86350
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

(備考)ボイド.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86351. Ni-0.05Sn, JMTR, 350℃, BF, 11K., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86351
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86352. Ni-0.05Sn, JMTR, 350℃, ED., 1992. 10. 23.

 アイテム
資料番号: O-86352
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR. (照射温度)350℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1992. 10. 23.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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