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ニッケル合金

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件名：ソース: Ku Peek

2219 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86548. Ni-12Cu, JMTR uncontrolled, 410℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86548
範囲と内容

(試料)Ni-12Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)410℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)C.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86549. Ni-13Cu, JMTR uncontrolled, 411℃, ED., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86549
範囲と内容

(試料)Ni-13Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)411℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)A.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86550. Ni-14Cu, JMTR uncontrolled, 412℃., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86550
範囲と内容

(試料)Ni-14Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)412℃.

(備考)C.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86551. Ni-15Cu, JMTR uncontrolled, 413℃., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86551
範囲と内容

(試料)Ni-15Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)413℃.

(備考)B.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86552. Ni-16Cu, JMTR uncontrolled, 414℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86552
範囲と内容

(試料)Ni-16Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)414℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)C　BとCのboundaryでC側にはloopsがあるがB側には少ない.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86553. Ni-17Cu, JMTR uncontrolled, 415℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86553
範囲と内容

(試料)Ni-17Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)415℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)C　AとCの間のC側のloopsは通常の厚さにともなうループと思われる.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86554. Ni-18Cu, JMTR uncontrolled, 416℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86554
範囲と内容

(試料)Ni-18Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)416℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86555. Ni-19Cu, JMTR uncontrolled, 417℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86555
範囲と内容

(試料)Ni-19Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)417℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)220.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86556. Ni-20Cu, JMTR uncontrolled, 418℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86556
範囲と内容

(試料)Ni-20Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)418℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)別のgrain.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86557. Ni-21Cu, JMTR uncontrolled, 419℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86557
範囲と内容

(試料)Ni-21Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)419℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)別のgrain.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86558. Ni-22Cu, JMTR uncontrolled, 420℃., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86558
範囲と内容

(試料)Ni-22Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)420℃.

(備考)56と同じ視野.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86559. Ni-23Cu, JMTR uncontrolled, 421℃, ED., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86559
範囲と内容

(試料)Ni-23Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)421℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86560. Ni-24Cu, JMTR uncontrolled, 422℃., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86560
範囲と内容

(試料)Ni-24Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)422℃.

(備考)57と同じ視野.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86561. Ni-25Cu, JMTR uncontrolled, 423℃, ED., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86561
範囲と内容

(試料)Ni-25Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)423℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　-3.5赤6-9（140）.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86562. Ni-26Cu, JMTR uncontrolled, 424℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86562
範囲と内容

(試料)Ni-26Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)424℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)　＋1赤15-18（120）.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86563. Ni-27Cu, JMTR uncontrolled, 425℃, ED., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86563
範囲と内容

(試料)Ni-27Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)425℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86564. Ni-28Cu, JMTR uncontrolled, 426℃, BF, 42K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86564
範囲と内容

(試料)Ni-28Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)426℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

(備考)ループがGBに向かって曲がっている.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86565. Ni-29Cu, JMTR uncontrolled, 427℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86565
範囲と内容

(試料)Ni-29Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)427℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87903. Ni-2CuSn, A983, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., 1991. 2. 4.

 アイテム
資料番号: O-87903
範囲と内容

(試料)Ni-2CuSn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)日付元記載「1991. 2. 4.」.

日付: 1991. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87904. Ni-2CuSn, A983, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., 1991. 2. 4.

 アイテム
資料番号: O-87904
範囲と内容

(試料)Ni-2CuSn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1991. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87905. Ni-2CuSn, A983, JMTR controlled, 200℃, ED., 1991. 2. 4.

 アイテム
資料番号: O-87905
範囲と内容

(試料)Ni-2CuSn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1991. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87906. Ni-2CuSn, A983, JMTR controlled, 200℃., 1991. 2. 4.

 アイテム
資料番号: O-87906
範囲と内容

(試料)Ni-2CuSn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃.

日付: 1991. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87907. Ni-2CuSn, A983, JMTR controlled, 200℃, BF, 21K., 1991. 2. 4.

 アイテム
資料番号: O-87907
範囲と内容

(試料)Ni-2CuSn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: 1991. 2. 4.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87910. Ni-2Ge, A951, JMTR controlled, 200℃, BF, 21K., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87910
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A951. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87911. Ni-2Ge, A951, JMTR controlled, 200℃, BF, 21K., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87911
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A951. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87912. Ni-2Ge, A951, JMTR controlled, 200℃, ED., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87912
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A951. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87913. Ni-2Ge, A951, JMTR controlled, 200℃, BF, 8K., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87913
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A951. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)8K.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87914. Ni-2Cu, A923, JMTR controlled, 200℃, BF, 21K., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87914
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A923. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87917. Ni-2Sn, A984, JMTR controlled, 200℃, BF, 21K., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87917
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87918. Ni-2Sn, A984, JMTR controlled, 200℃, BF., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87918
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-87919. Ni-2Sn, A984, JMTR controlled, 200℃, ED., [1991年2月4日.]

 アイテム
資料番号: O-87919
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月4日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88030. Ni-2Sn, A984, JMTR uncontrolled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88030
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)EMをケンマ　α　0.0赤4（40）.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88031. Ni-2Sn, A984, JMTR uncontrolled, 200℃, DF., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88031
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88032. Ni-2Sn, A984, JMTR uncontrolled, 200℃, DF., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88032
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88033. Ni-2Sn, A984, JMTR uncontrolled, 200℃, BF., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88033
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88034. Ni-2Sn, A984, JMTR uncontrolled, 200℃, ED., [1991年2月5日.]

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資料番号: O-88034
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88035. Ni-2Sn, A984, JMTR uncontrolled, 200℃, DF., [1991年2月5日.]

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資料番号: O-88035
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　7.8赤0.5（60９.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88036. Ni-2Sn, A984, JMTR uncontrolled, 200℃, BF., [1991年2月5日.]

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資料番号: O-88036
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88037. Ni-2Sn, A984, JMTR uncontrolled, 200℃, ED., [1991年2月5日.]

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資料番号: O-88037
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88038. Ni-2Sn, A984, JMTR uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

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資料番号: O-88038
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)（110）　SFT　or　loop？.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88039. Ni-2Sn, A984, JMTR uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

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資料番号: O-88039
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)以下同じ視野.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88040. Ni-2Sn, A984, JMTR uncontrolled, 200℃, ED., [1991年2月5日.]

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資料番号: O-88040
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88041. Ni-2Sn, A984, JMTR uncontrolled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

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資料番号: O-88041
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88042. Ni-2Sn, A984, JMTR uncontrolled, 200℃, BF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88042
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88043. Ni-2Sn, A984, JMTR uncontrolled, 200℃, BF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88043
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88044. Ni-2Sn, A984, JMTR uncontrolled, 200℃, BF., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88044
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A984. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88045. Ni-2Sn, A983, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88045
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)EMをケンマ　just　　2　1/2法.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88046. Ni-2Sn, A983, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88046
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)over2.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88047. Ni-2Sn, A983, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88047
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)under2.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88048. Ni-2Sn, A983, JMTR controlled, 200℃, ED., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88048
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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