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ニッケル合金

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件名：ソース: Ku Peek

2219 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88049. Ni-2Sn, A983, JMTR controlled, 200℃, BF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88049
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88050. Ni-2Sn, A983, JMTR controlled, 200℃, DF., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88050
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88051. Ni-2Sn, A983, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88051
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88052. Ni-2Sn, A983, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88052
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88053. Ni-2Sn, A983, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88053
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)near　（110）pole.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88054. Ni-2Sn, A983, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88054
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88055. Ni-2Sn, A983, JMTR controlled, 200℃, ED., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88055
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88056. Ni-2Sn, A983, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88056
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (試料番号)A983. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88057. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, DE, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88057
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)EM　polishied　from　EM　α　＋15赤12（220）.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88058. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, DE, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88058
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　B.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88059. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, ED., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88059
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88060. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, DE., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88060
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　A.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88061. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, DE., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88061
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　B.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88062. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, BF., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88062
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　A.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88063. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, BF., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88063
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　B.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88064. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, BF., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88064
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　A.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88065. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, BF., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88065
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　B.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88066. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, DE, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88066
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　A＋7.5赤7（140）.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88067. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, DE, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88067
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　B.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88068. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, ED., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88068
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88069. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, BF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88069
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　A.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88070. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, BF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88070
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　B.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88071. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, DE, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88071
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　grain変更.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88072. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, DE, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88072
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88073. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, ED., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88073
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88074. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, BF., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88074
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88075. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, BF., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88075
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88076. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, BF., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88076
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88077. Ni-2Si, A894, JMTR conventional, 200℃, BF., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88077
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A894. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)D.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88078. Ni-2Si, A893, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88078
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　α　-2黒0-3（120）.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88079. Ni-2Si, A893, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88079
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88080. Ni-2Si, A893, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88080
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B　α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88081. Ni-2Si, A893, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88081
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)C　α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88082. Ni-2Si, A893, JMTR controlled, 200℃, BF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88082
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)　α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88083. Ni-2Si, A893, JMTR controlled, 200℃, BF, 21K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88083
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)　α　dislocation.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88084. Ni-2Si, A893, JMTR controlled, 200℃, ED., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88084
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88085. Ni-2Si, A893, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88085
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　β　＋-0黒6-9（100）.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88086. Ni-2Si, A893, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88086
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D　β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88087. Ni-2Si, A893, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88087
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)E　β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88088. Ni-2Si, A893, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88088
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)F　β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88089. Ni-2Si, A893, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88089
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)F　β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88090. Ni-2Si, A893, JMTR controlled, 200℃, ED., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88090
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88091. Ni-2Si, A893, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88091
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88092. Ni-2Si, A893, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88092
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B-F.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88093. Ni-2Si, A893, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88093
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88094. Ni-2Si, A893, JMTR controlled, 200℃, BF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88094
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β　dislocation.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88095. Ni-2Si, A893, JMTR controlled, 200℃, BF, 21K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88095
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)β　dislocation.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88096. Ni-2Si, A893, JMTR controlled, 200℃, DF, 21K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88096
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (試料番号)A893. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88097. Ni-2Cu, A924, JMTR conventional, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88097
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A924. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　α　-11赤6-9（320）.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88098. Ni-2Cu, A924, JMTR conventional, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88098
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A924. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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