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ニッケル合金

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件名：ソース: Ku Peek

2219 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88099. Ni-2Cu, A924, JMTR conventional, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88099
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A924. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88100. Ni-2Cu, A924, JMTR conventional, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88100
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A924. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88101. Ni-2Cu, A924, JMTR conventional, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88101
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A924. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88102. Ni-2Cu, A924, JMTR conventional, 200℃., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88102
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A924. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃.

(備考)α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88103. Ni-2Cu, A924, JMTR conventional, 200℃, ED., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88103
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A924. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88104. Ni-2Cu, A924, JMTR conventional, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88104
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A924. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A β-5赤15-18（60）.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88105. Ni-2Cu, A924, JMTR conventional, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88105
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A924. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88106. Ni-2Cu, A924, JMTR conventional, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88106
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A924. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88107. Ni-2Cu, A924, JMTR conventional, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88107
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A924. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88108. Ni-2Cu, A924, JMTR conventional, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88108
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A924. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88109. Ni-2Cu, A924, JMTR conventional, 200℃, ED., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88109
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A924. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88110. Ni-2Cu, A924, JMTR conventional, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88110
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A924. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88111. Ni-2Cu, A924, JMTR conventional, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88111
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A924. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88112. Ni-2Cu, A924, JMTR conventional, 200℃, BF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88112
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A924. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)隣のgrain.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88113. Ni-2Cu, A924, JMTR conventional, 200℃, BF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88113
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A924. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88114. Ni-2Cu, A924, JMTR conventional, 200℃, BF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88114
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A924. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88115. Ni-2Cu, A924, JMTR conventional, 200℃, BF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88115
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A924. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88116. Ni-2Cu, A924, JMTR conventional, 200℃, ED., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88116
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A924. (照射条件)JMTR conventional. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88117. Ni-2Cu, A923, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88117
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A923. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　α　-31.5黒6-9（220）.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88118. Ni-2Cu, A923, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88118
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A923. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88119. Ni-2Cu, A923, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88119
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A923. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88120. Ni-2Cu, A923, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88120
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A923. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88121. Ni-2Cu, A923, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88121
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A923. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88122. Ni-2Cu, A923, JMTR controlled, 200℃, ED., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88122
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A923. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88123. Ni-2Cu, A923, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88123
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A923. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　β-24黒6-9（220）.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88124. Ni-2Cu, A923, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88124
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A923. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88125. Ni-2Cu, A923, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88125
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A923. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88126. Ni-2Cu, A923, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88126
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A923. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88127. Ni-2Cu, A923, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88127
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A923. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88128. Ni-2Cu, A923, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88128
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A923. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88129. Ni-2Cu, A923, JMTR controlled, 200℃, ED., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88129
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A923. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88130. Ni-2Cu, A923, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88130
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A923. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β位置.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88131. Ni-2Cu, A923, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88131
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A923. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88132. Ni-2Cu, A923, JMTR controlled, 200℃, BF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88132
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A923. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88133. Ni-2Cu, A923, JMTR controlled, 200℃, BF, 52K., [1991年2月5日.]

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資料番号: O-88133
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A923. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88134. Ni-2Cu, A923, JMTR controlled, 200℃, BF, 52K., [1991年2月5日.]

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資料番号: O-88134
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A923. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)コンタミが表面に少しのっている.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88135. Ni-2Ge, A953, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

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資料番号: O-88135
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A953. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　α　-3黒3-6（200）.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88136. Ni-2Ge, A953, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

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資料番号: O-88136
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A953. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88137. Ni-2Ge, A953, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

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資料番号: O-88137
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A953. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88138. Ni-2Ge, A953, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

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資料番号: O-88138
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A953. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88139. Ni-2Ge, A953, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

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資料番号: O-88139
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A953. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88140. Ni-2Ge, A953, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88140
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A953. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88141. Ni-2Ge, A953, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88141
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A953. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88142. Ni-2Ge, A953, JMTR controlled, 200℃, ED., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88142
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A953. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88143. Ni-2Ge, A953, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88143
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A953. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)A　β-3.5黒12-15（40）.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88144. Ni-2Ge, A953, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88144
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A953. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88145. Ni-2Ge, A953, JMTR controlled, 200℃, DF, 100K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88145
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A953. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88146. Ni-2Ge, A953, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88146
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A953. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)A　β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88147. Ni-2Ge, A953, JMTR controlled, 200℃, DF, 52K., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88147
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A953. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88148. Ni-2Ge, A953, JMTR controlled, 200℃, ED., [1991年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-88148
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A953. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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