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ニッケル合金

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件名：ソース: Ku Peek

2219 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88415. Ni-2Cu, A921, JMTR　, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88415
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A921. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88416. Ni-2Cu, A921, JMTR　, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88416
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A921. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88417. Ni-2Cu, A921, JMTR　, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88417
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (試料番号)A921. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88418. Ni-2Ge, A951, JMTR　, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88418
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (EM/D3)D3. (試料番号)A951. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88419. Ni-2Ge, A951, JMTR　, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88419
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A951. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88420. Ni-2Ge, A951, JMTR　, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88420
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A951. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88421. Ni-2Ge, A951, JMTR　, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88421
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)A951. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)コンタミ取れていない.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88455. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88455
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)EM polish　α　-12.5赤15（240）A.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88456. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88456
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88457. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88457
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88458. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, BF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88458
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　A.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88459. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, BF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88459
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88460. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88460
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　just.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88461. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88461
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α　over　1.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88462. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88462
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　over　2.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88463. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88463
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　under　1.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88464. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88464
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α　under　2.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88465. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF, 100K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88465
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88466. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88466
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88467. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF, 52K., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88467
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　-19.2赤7（100）A.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88468. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88468
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88469. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88469
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88470. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88470
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　A　.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88471. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88471
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)β　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88472. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, BF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88472
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　A　.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88473. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, BF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88473
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β　B.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88474. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88474
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β　C　.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88475. Ni-2Si, JMTR　, 120℃., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88475
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃.

(備考)β　C　.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88476. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, ED., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88476
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　C　.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88477. Ni-2Si, JMTR　, 120℃, DF., [1991年2月6日.]

 アイテム
資料番号: O-88477
範囲と内容

(試料)Ni-2Si. (照射条件)JMTR　. (照射温度)120℃. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　C　.

日付: [1991年2月6日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88553. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88553
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)150℃-＞300℃　EM面polish　α-24赤6-9（180）.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88554. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88554
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88555. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88555
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88556. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88556
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88557. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88557
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88558. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88558
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88559. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88559
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88560. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88560
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88561. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88561
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88562. Ni-２Si, A892, 150℃, ED., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88562
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88563. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88563
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　-29　＋-0.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88564. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88564
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88565. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88565
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88566. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88566
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88567. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 100K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88567
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88568. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88568
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88569. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88569
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88570. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88570
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88571. Ni-２Si, A892, 150℃, ED., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88571
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88572. Ni-２Si, A892, 150℃, DF, 52K., [1991年2月7日.]

 アイテム
資料番号: O-88572
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)A892. (照射温度)150℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α位置.

日付: [1991年2月7日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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