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ニッケル合金

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件名：ソース: Ku Peek

2219 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88735. Ni-２Cu, N131, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88735
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)N131. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　＋15黒6（0）.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88736. Ni-２Cu, N131, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88736
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)N131. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88737. Ni-２Cu, N131, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88737
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)N131. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88738. Ni-２Cu, N131, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88738
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)N131. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88739. Ni-２Cu, N131, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88739
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)N131. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88740. Ni-２Cu, N131, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88740
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)N131. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88741. Ni-２Cu, N131, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88741
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)N131. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88742. Ni-２Cu, N131, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88742
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)N131. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88743. Ni-２Cu, N131, JMTR, 200℃, ED., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88743
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)N131. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88744. Ni-２Cu, N131, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88744
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)N131. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88745. Ni-２Cu, N131, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88745
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)N131. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88746. Ni-２Cu, N131, JMTR, 200℃, DF, 31K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88746
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)N131. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88747. Ni-２Cu, N131, JMTR, 200℃, DF, 31K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88747
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)N131. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88748. Ni-２Cu, N131, JMTR, 200℃, DF, 31K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88748
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)N131. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88749. Ni-２Cu, N131, JMTR, 200℃, DF, 31K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88749
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)N131. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88750. Ni-２Cu, N131, JMTR, 200℃, DF, 31K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88750
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)N131. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88751. Ni-２Cu, N131, JMTR, 200℃, DF, 31K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88751
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)N131. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88752. Ni-２Cu, N131, JMTR, 200℃, ED., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88752
範囲と内容

(試料)Ni-２Cu. (試料番号)N131. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)（0,0）のとき.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88753. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88753
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (EM/D3)EM. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α-2赤0-3（60）.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88754. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88754
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88755. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88755
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88756. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88756
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88757. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88757
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88758. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88758
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88759. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88759
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88760. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, ED., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88760
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β　-2赤9-12（240）.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88761. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88761
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88762. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88762
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88763. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88763
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88764. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88764
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88765. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, ED., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88765
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88766. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88766
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88767. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, DF, 31K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88767
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88768. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, DF, 31K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88768
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88769. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, BF, 31K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88769
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88770. Ni-２Si, N191, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88770
範囲と内容

(試料)Ni-２Si. (試料番号)N191. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α-28.5黒12-15（120）.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88771. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88771
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88772. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88772
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88773. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88773
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88774. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88774
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88775. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, ED., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88775
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88776. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88776
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β　-21.5黒6-9（200）.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88777. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88777
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88778. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 100K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88778
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88779. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88779
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88780. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88780
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88781. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, ED., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88781
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88782. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 52K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88782
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88783. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 31K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88783
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-88784. Ni-２Ge, N221, JMTR, 200℃, DF, 31K., [1991年2月8日.]

 アイテム
資料番号: O-88784
範囲と内容

(試料)Ni-２Ge. (試料番号)N221. (照射条件)JMTR. (照射温度)200℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1991年2月8日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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