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ゲルマニウム

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件名：ソース: Ku Peek

85 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-11997. Ge, RTNS-II, S, DF., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-11997
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-11998. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-11998
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)125℃　　1.8ｍV　0′10″ X.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-11999. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-11999
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)X.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12000. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12000
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)X.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12001. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12001
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)0′10″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12002. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12002
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)0′40″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12003. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12003
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)1′30″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12004. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12004
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)2′20″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12005. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12005
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)3′20″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12006. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12006
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)4′20″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12007. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12007
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)6′00″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12008. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12008
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)7′50″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12009. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12009
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)10′20″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12010. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12010
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)150℃　2.3＜−＞150℃　0′15″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12011. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12011
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)1′05″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12012. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12012
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)2′05″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12013. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12013
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)3′10″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12014. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12014
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)4′20″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12015. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12015
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)6′00″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12016. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12016
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)7′30″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12017. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12017
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)8′55″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12018. Ge, RTNS-II, S, DF., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12018
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12019. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12019
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)175℃＜−＞　2.75　0′10″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12020. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12020
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)0′40″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12021. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12021
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)1′20″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12022. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12022
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)3′25″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12023. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12023
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)6′55″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12024. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12024
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)9′00″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12025. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12025
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)200℃＜−＞3.20ｍV　0′10″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12026. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12026
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)0′45″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12027. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12027
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)1′55″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12028. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12028
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)4′20″.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12029. Ge, RTNS-II, S., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12029
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S.

(備考)9′20″ FCC＝0.554nA.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-12030. Ge, RTNS-II, S, DF., [1985年9月10日.]

 アイテム
資料番号: O-12030
範囲と内容

(試料)Ge. (照射条件)RTNS-II. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A 　α　-9.2、5（240）黒.

日付: [1985年9月10日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997.

 コレクション
資料番号: KURNS MIXED 2018/3
要約 高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として幅広く行われている。本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行いその後に電子顕微鏡観察した結果を記録した写真のネガフィルムで，さまざまな形態の照射欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，現在研究用等原子炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件変更により実施できなくなった実験条件で得られた，希少な照射材料の撮影結果を含む。Material irradiation experiments using high-energy particles are conducted as a means of introducing defects into the material and as a property test of the material used under irradiation. This collection consists of negative films that...
日付: 1985.1.10 〜 1997.7.26. [昭和60年〜平成9年.]; [1985-01-10/1997-07-26.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive

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