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大洗町 (茨城県 東茨城郡)

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件名：ソース: Ku Peek

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49390. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49390
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49391. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49391
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49392. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49392
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49393. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49393
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49394. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49394
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49395. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49395
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49396. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49396
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49397. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49397
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （4）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49398. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49398
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （4）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49399. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49399
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （4）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49400. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49400
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49401. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49401
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49402. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49402
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49403. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49403
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49404. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49404
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49405. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49405
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49406. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49406
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49407. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49407
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （5）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49408. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49408
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （5）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49409. 森, B02, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49409
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B02. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （5）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49410. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49410
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49411. 森, B01, RTNS-II, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49411
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49412. 森, B01, RTNS-II, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49412
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49413. 森, B01, RTNS-II, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49413
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49414. 森, B01, RTNS-II, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49414
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49415. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49415
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49416. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49416
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49417. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49417
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49418. 森, B01, RTNS-II, DF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49418
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49419. 森, B01, RTNS-II, BF., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49419
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49420. 森, B01, RTNS-II, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49420
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49421. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49421
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49422. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49422
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49423. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49423
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49424. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49424
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49425. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49425
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49426. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49426
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （3）.

(備考)α.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49427. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49427
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （3）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49428. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49428
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 （3）.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49429. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49429
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49430. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49430
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49431. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49431
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49432. 森, B01, RTNS-II, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49432
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49433. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49433
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49434. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49434
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49435. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49435
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49436. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49436
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49437. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49437
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49438. 森, B01, RTNS-II, ED., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49438
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-49439. 森, B01, RTNS-II., [1988年3月20日以降.]

 アイテム
資料番号: O-49439
範囲と内容

(試料)森. (EM/D3)D3. (試料番号)B01. (照射条件)RTNS-II. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0 .

日付: [1988年3月20日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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