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大洗町 (茨城県 東茨城郡)

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件名：ソース: Ku Peek

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4915. Au, AT206-2, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4915
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4916. Au, AT206-2, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4916
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4917. Au, AT206-2, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4917
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4918. Au, AT206-2, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4918
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4919. Au, AT206-2, RTNS-II, 300K, S, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4919
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4920. Au, AT206-2, RTNS-II, 300K, S, BF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4920
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4921. Au, AT206-2, RTNS-II, 300K, S, ED., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4921
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4922. Au, AT206-2, RTNS-II, 423K焼鈍後, S, BF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4922
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)423K焼鈍後. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)上1黒4.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4923. Au, AT206-2, RTNS-II, 423K焼鈍後, S, BF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4923
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)423K焼鈍後. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4924. Au, AT206-2, RTNS-II, 423K焼鈍後, S, BF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4924
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)423K焼鈍後. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4925. Au, AT206-2, RTNS-II, 423K焼鈍後, S, BF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4925
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)423K焼鈍後. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4926. Au, AT206-2, RTNS-II, 423K焼鈍後, S, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4926
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)423K焼鈍後. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4927. Au, AT206-2, RTNS-II, 423K焼鈍後, S, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4927
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)423K焼鈍後. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4928. Au, AT206-2, RTNS-II, 423K焼鈍後, S, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4928
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)423K焼鈍後. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4929. Au, AT206-2, RTNS-II, 423K焼鈍後, S, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4929
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)423K焼鈍後. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4930. Au, AT206-2, RTNS-II, 423K焼鈍後, S, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4930
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)423K焼鈍後. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4931. Au, AT206-2, RTNS-II, 423K焼鈍後, S, BF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4931
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)423K焼鈍後. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4932. Au, AT206-2, RTNS-II, 423K焼鈍後, S, BF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4932
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)423K焼鈍後. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4933. Au, AT206-2, RTNS-II, 423K焼鈍後, S, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4933
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)423K焼鈍後. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4934. Au, AT206-2, RTNS-II, 423K焼鈍後, S, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4934
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)423K焼鈍後. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4935. Au, AT206-2, RTNS-II, 423K焼鈍後, S, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4935
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)423K焼鈍後. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4936. Au, AT206-2, RTNS-II, 423K焼鈍後, S, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4936
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)423K焼鈍後. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4937. Au, AT206-2, RTNS-II, 423K焼鈍後, S, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4937
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)423K焼鈍後. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4938. Au, AT206-2, RTNS-II, 423K焼鈍後, S, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4938
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)423K焼鈍後. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4939. Au, AT206-2, RTNS-II, 423K焼鈍後, S, DF, 100K., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4939
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)423K焼鈍後. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-4940. Au, AT206-2, RTNS-II, 423K焼鈍後, S, ED., [1985年1月10-12日.], [1985-01-10/1985-01-12.]

 アイテム
資料番号: O-4940
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)AT206-2. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)423K焼鈍後. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1985年1月10-12日.]; [1985-01-10/1985-01-12.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5441. Au, 非照射, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5441
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)非照射. (条件・倍率等)8K.

(備考)日付元記載「60/2/20」.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5442. Au, 非照射, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5442
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)非照射. (条件・倍率等)8K.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5443. Au, 非照射, 31K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5443
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)非照射. (条件・倍率等)31K.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5444. Au, 非照射, 31K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5444
範囲と内容

(試料)Au. (照射条件)非照射. (条件・倍率等)31K.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5445. Ni, A-1, RTNS-II, 300K, SS, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5445
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5446. Ni, A-7, 300K, S, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5446
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5447. Ni, A-7, 300K, S, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5447
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5448. Ni, A-7, 300K, S, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5448
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5449. Ni, A-1, 300K, SS, 11K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5449
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)11K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5450. Ni, A-7, 300K, S, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5450
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5451. Ni, A-7, 300K, S, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5451
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5452. Ni, A-7, 300K, S, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5452
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5453. Ni, A-7, 300K, S, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5453
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5454. Ni, A-7, 300K, S, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5454
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5455. Ni, A-7, 300K, S, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5455
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-7. (照射温度)300K. (照射量)S. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5456. Ni, A-1, 300K, SS, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5456
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5457. Ni, A-1, 300K, SS, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5457
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5458. Ni, A-1, 300K, SS, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5458
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5459. Ni, A-1, 300K, SS, 31K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5459
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)31K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5460. Ni, A-1, 300K, SS, 31K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5460
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)31K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5461. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5461
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5462. Ni, A-1, 300K, SS, 8K., [昭和]60/2/20.

 アイテム
資料番号: O-5462
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)8K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [昭和]60/2/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5463., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5463
範囲と内容 コレクション ： 　高エネルギー粒子の材料照射実験は，材料に欠陥を導入する手段として，また照射下で使用される材料の特性試験として行われている。これらの実験の目的は，原子炉や加速器で使われる材料の放射線による劣化の予測や，放射線に強い材料の探索や開発などである。その特性試験においては透過電子顕微鏡を用いた照射による構造変化の観察が重要である。 　本資料は，金属材料を中心としたさまざまな材料に高エネルギー粒子照射を行い，照射後の材料を電子顕微鏡観察した結果を記録した電子顕微鏡写真のネガフィルムであり，さまざまな形態の格子欠陥像が撮影されている。幅広い実験条件を網羅するだけでなく，いま試験研究炉や加速器などの照射設備の運転停止や運転条件の変更（実験規模の縮小）により，もはや実施できないような条件で照射された希少な照射材料の撮影結果を含んでいる。 電子顕微鏡写真は, ほとんどが東北大学金属材料研究所附属材料試験炉利用施設(茨城県大洗町)に置かれた2つの透過型電子顕微鏡(TEM; 日本電子製, JEOL JEM200CX)により撮影された. 撮影対象となった材料の多くは,...
日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-5464. Ni, A-1, 300K, SS, 100K., [1985年2月20日.]

 アイテム
資料番号: O-5464
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A-1. (照射温度)300K. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

(備考)2％引張り試料.

日付: [1985年2月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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