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大洗町 (茨城県 東茨城郡)

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件名：ソース: Ku Peek

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32805. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32805
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32806. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32806
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32807. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32807
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C　α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32808. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32808
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32809. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M, DF, 52K., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32809
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)C　α.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32810. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M, ED., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32810
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32811. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32811
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32812. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32812
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32813. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32813
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M.

(備考)B.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32814. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32814
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M.

(備考)C.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32815. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32815
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M.

(備考)C.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32816. Cu-0.3Si, G577, RTNS-II, 450℃, M, ED., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32816
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G577. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32817. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32817
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (EM/D3)EM. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32818. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32818
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32819. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32819
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32820. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32820
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32821. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32821
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32822. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32822
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32823. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32823
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32824. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, DF., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32824
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32825. Cu-0.05Ni, G773, RTNS-II, 200℃, WW, ED., [1986年10月11日以降.]

 アイテム
資料番号: O-32825
範囲と内容

(試料)Cu-0.05Ni. (試料番号)G773. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月11日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32826. Ni, DF, 52K., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32826
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)annealing experiment A α　-25黒6(100). 日付元記載「1986. 10. 11. p.m. 2:00~」.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32827. Ni, DF, 52K., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32827
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　α.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32828. Ni, DF, 52K., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32828
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)A α　.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32829. Ni, DF, 52K., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32829
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　α.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32830. Ni, DF, 52K., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32830
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A α　.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32831. Ni, DF, 52K., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32831
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32832. Ni, ED., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32832
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32833. Ni, DF, 52K., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32833
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A -13.3 黒3（220）.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32834. Ni, DF, 52K., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32834
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)B.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32835. Ni, ED., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32835
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32836. Ni, DF, 52K., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32836
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)C.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32837. Ni, DF, 52K., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32837
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)D.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32838. Ni, DF, 52K., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32838
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)50℃　～40min　　A.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32839. Ni, DF., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32839
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32840. Ni, DF., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32840
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32841. Ni, DF., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32841
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32842. Ni, DF., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32842
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　　75℃　～30min.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32843. Ni, DF., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32843
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32844. Ni, ED., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32844
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32845. Ni, DF., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32845
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)A　100℃　～30min.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32846. Ni, DF., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32846
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)B.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32847. Ni, DF., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32847
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)C.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32848. Ni, DF., 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.

 アイテム
資料番号: O-32848
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D.

日付: 1986. 10. 11. p.m. 2:00~.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32849. Ni, DF, 52K., [1986年10月11日.]

 アイテム
資料番号: O-32849
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　150℃　～30min.

日付: [1986年10月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32850. Ni, DF, 52K., [1986年10月11日.]

 アイテム
資料番号: O-32850
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [1986年10月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32851. Ni, DF, 52K., [1986年10月11日.]

 アイテム
資料番号: O-32851
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　200℃　～30min　.

日付: [1986年10月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32852. Ni, DF, 52K., [1986年10月11日.]

 アイテム
資料番号: O-32852
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [1986年10月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32853. Ni, DF, 52K., [1986年10月11日.]

 アイテム
資料番号: O-32853
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　250℃　～30min　.

日付: [1986年10月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-32854. Ni, DF, 52K., [1986年10月11日.]

 アイテム
資料番号: O-32854
範囲と内容

(試料)Ni. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B.

日付: [1986年10月11日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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