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大洗町 (茨城県 東茨城郡)

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件名：ソース: Ku Peek

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33806. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33806
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中～大.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33807. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33807
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋3.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33808. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33808
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)Stereoのpart.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33809. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33809
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋3.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33810. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33810
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33811. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33811
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋3.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33812. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 100K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33812
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33813. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33813
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S.

(備考)FC＋3.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33814. Cu-0.3Si, G575, RTNS-II, 200℃, S, DF, 21K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33814
範囲と内容

(試料)Cu-0.3Si. (EM/D3)D3. (試料番号)G575. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33815. Cu, RTNS-II, 290℃, S, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33815
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (条件・倍率等)52K.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33816. Cu, RTNS-II, 290℃, S, BF, 21K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33816
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)ｓ中.

(備考)voids.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33817. Cu, RTNS-II, 290℃, S., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33817
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33818. Cu, RTNS-II, 290℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33818
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小～中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33819. Cu, RTNS-II, 290℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33819
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33820. Cu, RTNS-II, 290℃, S, ED., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33820
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33821. Cu, RTNS-II, 290℃, S, DF, 52K., [1986年10月15日以降.]

 アイテム
資料番号: O-33821
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)隣.

日付: [1986年10月15日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35470. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35470
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)EMきれい　α　上20（-）黒3（20）　小さなものあるSFT?. 日付元記載「61年12月1日」.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35471. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35471
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35472. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35472
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)α.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35473. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35473
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0(5).

(備考)α.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35474. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35474
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)β’　下14（-）黒9（10）.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35475. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35475
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)β’　.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35476. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35476
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)β’　.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35477. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35477
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

(備考)β’　.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35478. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS, ED., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35478
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β’　.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35479. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35479
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0(4).

(備考)β　　　下20（-）黒9（0）.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35480. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35480
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)S＞＞0(5).

(備考)β.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35481. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS, ED., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35481
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35482. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS, 100K., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35482
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (条件・倍率等)100K.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35483. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35483
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35484. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35484
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35485. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35485
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35486. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35486
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35487. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

 アイテム
資料番号: O-35487
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35488. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [昭和]61年12月1日.

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資料番号: O-35488
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35489. SUS316, α200 Koyama, RTNS-II, RT, SS, ED., [昭和]61年12月1日.

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資料番号: O-35489
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α200 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [昭和]61年12月1日.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35490. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35490
範囲と内容

(試料)SUS316. (EM/D3)EM. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)きれい　小さなものある　上1.5(-)黒2（120）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35491. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35491
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35492. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35492
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35493. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35493
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35494. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M, ED., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35494
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35495. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35495
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下9（＋）赤2（300）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35496. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35496
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35497. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35497
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35498. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35498
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35499. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35499
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35500. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35500
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下9　赤2（280）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35501. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35501
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35502. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35502
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35503. SUS316, α197 Koyama, RTNS-II, RT, M., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35503
範囲と内容

(試料)SUS316. (試料番号)α197 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)M. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0(4).

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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