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大洗町 (茨城県 東茨城郡)

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件名：ソース: Ku Peek

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36461. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF, ↓., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36461
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)↓. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36462. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36462
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36463. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36463
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36464. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36464
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36465. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36465
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)A　β　　-14.2黒7（20）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36466. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36466
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)A　β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36467. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36467
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36468. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36468
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36469. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36469
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)B　β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36470. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36470
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)C　α　　-14.2　黒5（100）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36471. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF, ↓., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36471
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)↓. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36472. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36472
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36473. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36473
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36474. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36474
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)D　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36475. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36475
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)E　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36476. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36476
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)E　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36477. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36477
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)F　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36478. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36478
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)F　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36479. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36479
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

(備考)F　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36480. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36480
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)F　α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36481. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 52K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36481
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)C　β -8.2黒1（120）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36482. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF, ↓., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36482
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)↓.

(備考)D β .

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36483. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36483
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)D β .

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36484. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF, 100K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36484
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)F　β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36485. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36485
範囲と内容

(試料)Au. (EM/D3)EM. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　　下16.5（＋）黒14（140）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36485. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36485
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)F　β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36486. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36486
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36486. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36486
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)3 step over.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36487. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36487
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36487. Ni, A744　木下, RTNS-II, RT, SS, DF., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36487
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)A744　木下. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)3 step under.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36488. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36488
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

(備考)α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36489. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36489
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

(備考)α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36490. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36490
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

(備考)α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36491. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36491
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

(備考)α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36492. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36492
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

(備考)α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36493. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36493
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36494. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36494
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36495. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36495
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　下6（＋）黒12（20）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36496. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36496
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

(備考)β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36497. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36497
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

(備考)β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36498. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36498
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

(備考)β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36499. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36499
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

(備考)β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36500. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36500
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

(備考)β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36501. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36501
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36502. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW, LM　1., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36502
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)LM　1.

(備考)β.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36503. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW, 100K., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36503
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β’　下6.5（＋）黒15（280）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36504. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36504
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36505. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36505
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36506. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36506
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0（4.5）.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-36507. Au, G006, RTNS-II, 150℃, WW, ED., [1986年12月7日以降.]

 アイテム
資料番号: O-36507
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)G006. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)150℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月7日以降.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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