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熊取町 (大阪府 泉南郡)

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件名：ソース: Ku Peek

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45157. Au, A270　吉田, RTNS-II, 290℃, WW., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45157
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A270　吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45158. Au, A270　吉田, RTNS-II, 290℃, WW., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45158
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A270　吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45159. Au, A270　吉田, RTNS-II, 290℃, WW., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45159
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A270　吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45160. Au, A270　吉田, RTNS-II, 290℃, WW., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45160
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A270　吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45161. Au, A270　吉田, RTNS-II, 290℃, WW, 52K., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45161
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A270　吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45162. Au, A270　吉田, RTNS-II, 290℃, WW., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45162
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A270　吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45163. Au, A270　吉田, RTNS-II, 290℃, WW., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45163
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A270　吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45164. Au, A270　吉田, RTNS-II, 290℃, WW., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45164
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A270　吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45165. Au, A270　吉田, RTNS-II, 290℃, WW, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45165
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A270　吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45166. Au, A270　吉田, RTNS-II, 290℃, WW., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45166
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A270　吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上14.5（-）赤3（240）.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45167. Au, A270　吉田, RTNS-II, 290℃, WW., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45167
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A270　吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45168. Au, A270　吉田, RTNS-II, 290℃, WW., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45168
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A270　吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45169. Au, A270　吉田, RTNS-II, 290℃, WW., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45169
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A270　吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45170. Au, A270　吉田, RTNS-II, 290℃, WW., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45170
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A270　吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45171. Au, A270　吉田, RTNS-II, 290℃, WW., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45171
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A270　吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45172. Au, A270　吉田, RTNS-II, 290℃, WW, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45172
範囲と内容

(試料)Au. (試料番号)A270　吉田. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)290℃. (照射量)WW. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45173. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45173
範囲と内容

(試料)Al. (EM/D3)EM. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上10（-）黒7（200）.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45174. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45174
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45175. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45175
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45176. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45176
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45177. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45177
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＝0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45178. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45178
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45179. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45179
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45180. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45180
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45181. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45181
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45182. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45182
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45183. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45183
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45184. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45184
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45185. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45185
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45186. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45186
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45187. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45187
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45188. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45188
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45189. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45189
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45190. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45190
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45191. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45191
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45192. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45192
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)上8（-）黒13（60）.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45193. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45193
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45194. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45194
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45195. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45195
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45196. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45196
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45197. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45197
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45198. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45198
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45199. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45199
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45200. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45200
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45201. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45201
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45202. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45202
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45203. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45203
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45204. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S, ED., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45204
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45205. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45205
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-45206. Al, V502　last, RTNS-II, RT, S., [1987年7月22日.]

 アイテム
資料番号: O-45206
範囲と内容

(試料)Al. (試料番号)V502　last. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S.

日付: [1987年7月22日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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