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熊取町 (大阪府 泉南郡)

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件名：ソース: Ku Peek

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57845. Fe-0.4Mn, JMTR, 300℃, ED., 1993. 2. 5.

 アイテム
資料番号: O-57845
範囲と内容

(試料)Fe-0.4Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: 1993. 2. 5.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57845. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57845
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57846. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, DF, 25K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57846
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57846. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57846
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57847. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, DF, 25K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57847
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57847. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57847
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57848. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, DF, 25K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57848
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57848. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57848
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57849. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, DF, 25K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57849
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57849. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57849
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57850. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, DF, 25K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57850
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57850. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57850
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大中.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57851. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, DF, 25K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57851
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57851. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 21K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57851
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57852. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, BF, 25K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57852
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57852. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 100K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57852
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57853. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, BF, 25K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57853
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57853. Ni-0.05Si, JMTR, 01, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57853
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57854. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, 10K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57854
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57854. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF, 21K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57854
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57855. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, 10K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57855
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57855. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57855
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57856. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, DF, 10K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57856
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57856. Ni-0.05Si, JMTR, 01, BF., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57856
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57857. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, DF, 10K., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57857
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)10K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57857. Ni-0.05Si, JMTR, 01, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57857
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57858. Fe-2Mn, JMTR, 150-＞300℃, ED., [1993年2月5日.]

 アイテム
資料番号: O-57858
範囲と内容

(試料)Fe-2Mn. (照射条件)JMTR. (照射温度)150-＞300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1993年2月5日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57858. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57858
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57859. Ni-0.05Si, JMTR, 01, ED., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57859
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57860. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57860
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

(備考)GBのボイド.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57861. Ni-0.05Si, JMTR, 01, DF, 52K., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57861
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57862. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57862
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57863. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57863
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57864. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57864
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57865. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57865
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57866. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57866
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57867. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57867
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57868. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57868
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57869. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57869
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57870. Ni-0.05Si, JMTR, 01., [1989年7月24日.]

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資料番号: O-57870
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Si. (照射条件)JMTR. (照射量)01.

(備考)GB近くにループいるかどうかははっきりしない.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57871. Ni-0.05Ge, JMTR, 11, DF., [1989年7月24日.]

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資料番号: O-57871
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (EM/D3)EM. (照射条件)JMTR. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF.

(備考)EM　一回研磨後　連続研磨.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57872. Ni-0.05Ge, JMTR, 11, DF., [1989年7月24日.]

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資料番号: O-57872
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57873. Ni-0.05Ge, JMTR, 11, DF., [1989年7月24日.]

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資料番号: O-57873
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57874. Ni-0.05Ge, JMTR, 11, DF., [1989年7月24日.]

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資料番号: O-57874
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57875. Ni-0.05Ge, JMTR, 11, LM　100., [1989年7月24日.]

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資料番号: O-57875
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR. (照射量)11. (条件・倍率等)LM　100.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57876. Ni-0.05Ge, JMTR, 11., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57876
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR. (照射量)11.

(備考)2回研磨後.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57877. Ni-0.05Ge, JMTR, 11., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57877
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR. (照射量)11.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57878. Ni-0.05Ge, JMTR, 11., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57878
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR. (照射量)11.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57879. Ni-0.05Ge, JMTR, 11., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57879
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR. (照射量)11.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-57880. Ni-0.05Ge, JMTR, 11., [1989年7月24日.]

 アイテム
資料番号: O-57880
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (照射条件)JMTR. (照射量)11.

日付: [1989年7月24日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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