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熊取町 (大阪府 泉南郡)

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件名：ソース: Ku Peek

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58695. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58695
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

(備考)α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58696. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58696
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K.

(備考)α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58697. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58697
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K.

(備考)α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58698. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, 31K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58698
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)31K.

(備考)α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58699. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, 31K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58699
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)31K.

(備考)α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58700. Fe0.1Mn, BF, 80K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58700
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K.

(備考)同じ場所　ボイド. 日付元記載「1993. 7. 27」.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58700. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58700
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58701. Fe0.1Mn, BF, 80K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58701
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K.

(備考)同じ場所　.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58701. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58701
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58702. Fe0.1Mn, BF, 80K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58702
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K.

(備考)同じ場所　.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58702. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58702
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58703. Fe0.1Mn, BF, 17K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58703
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)17K.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58703. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58703
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58704. Fe0.1Mn, BF, 50K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58704
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58704. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58704
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)α.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58705. Fe0.1Mn, BF, 100K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58705
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)同じ視野just.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58705. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58705
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58706. Fe0.1Mn, BF, 100K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58706
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)同じ視野under.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58706. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 100K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58706
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58707. Fe0.1Mn, BF, 100K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58707
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)同じ視野.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58707. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 21K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58707
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58708. Fe0.1Mn, DF, 100K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58708
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)同じ視野.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58708. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58708
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K.

(備考)β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58709. Fe0.1Mn, DF, 100K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58709
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

(備考)同じ視野.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58709. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58709
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K.

(備考)β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58710. Fe0.1Mn, DF, 100K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58710
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

(備考)同じ視野.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58710. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, 31K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58710
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)31K.

(備考)β.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58711. Fe0.1Mn, ED., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58711
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)同じ視野.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58711. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58711
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58712. Fe0.1Mn, BF, 100K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58712
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)他の視野.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58712. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58712
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58713. Fe0.1Mn, BF, 25K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58713
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

(備考)ボイド.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58713. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58713
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58714. Fe0.1Mn, BF, 25K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58714
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

(備考)ボイドunder.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58714. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58714
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58715. Fe0.1Mn, BF, 80K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58715
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K.

(備考)ボイド.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58715. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58715
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58716. Fe0.1Mn, BF, 80K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58716
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)80K.

(備考)ボイド　ずらし.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58716. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58716
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58717. Fe0.1Mn, BF, 25K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58717
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

(備考)X.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58717. Ni-0.3Ge, N214, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58717
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Ge. (試料番号)N214. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58718. Fe0.1Mn, ED, 25K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58718
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)25K.

(備考)X.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58718. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58718
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)（100）面.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58719. Fe0.1Mn, BF, 25K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58719
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58719. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58719
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58720. Fe0.1Mn, ED, 25K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58720
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)ED. (条件・倍率等)25K.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58720. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58720
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58721. Fe0.1Mn, DF, 25K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58721
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)25K.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58721. Ni-0.05Ge, N204, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 11K., [1989年8月30日.]

 アイテム
資料番号: O-58721
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Ge. (試料番号)N204. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)11K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年8月30日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-58722. Fe0.1Mn, BF, 25K., 1993. 7. 27.

 アイテム
資料番号: O-58722
範囲と内容

(試料)Fe0.1Mn. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)25K.

日付: 1993. 7. 27.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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