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熊取町 (大阪府 泉南郡)

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件名：ソース: Ku Peek

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59982. Ni, RTNS-II, 450℃, SS, DE., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59982
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59983. Ni, RTNS-II, 450℃, SS, DE., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59983
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)450℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DE. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59984. Ni-0.3Sn, JMTR contolled　, 300℃, 11., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59984
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59985. Ni-0.3Sn, JMTR contolled　, 300℃, 11., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59985
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59986. Ni-0.3Sn, JMTR contolled　, 300℃, 11., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59986
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59987. Ni-0.3Sn, JMTR contolled　, 300℃, 11., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59987
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59988. Ni-0.3Sn, JMTR contolled　, 300℃, 11, DF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59988
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59989. Ni-0.3Sn, JMTR contolled　, 300℃, 11, DF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59989
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59990. Ni-0.3Sn, JMTR contolled　, 300℃, 11, DF, 60K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59990
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)60K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59991. Ni-0.3Sn, JMTR contolled　, 300℃, 11, 60K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59991
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (条件・倍率等)60K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59992. Ni-0.3Sn, JMTR contolled　, 300℃, 11, BF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59992
範囲と内容

(試料)Ni-0.3Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)11. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59993. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59993
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (EM/D3)D3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)よごれひどい.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59994. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59994
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59995. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, DF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59995
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59996. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, DF., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59996
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (Dark, Bright, ED)DF. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59997. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, DF, 60K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59997
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)60K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59998. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, BF, 60K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59998
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)60K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-59999. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-59999
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)110.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60000. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60000
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)110.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60001. Ni-0.05Sn, JMTR contolled　, 300℃, 21, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60001
範囲と内容

(試料)Ni-0.05Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (照射量)21. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)110.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60002. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60002
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60003. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60003
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60004. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60004
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60005. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60005
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60006. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, 80K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60006
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)80K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60007. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, 60K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60007
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)60K. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60008. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, 60K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60008
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (条件・倍率等)60K. (反射ベクトルg)220. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60009. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60009
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)220.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60010. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60010
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)2-20. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60011. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60011
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)2-20. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60012. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60012
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED. (反射ベクトルg)2-20.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60013. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, BF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60013
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60014. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃, BF, 20K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60014
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-60015. Ni-2Sn, JMTR contolled　, 300℃., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-60015
範囲と内容

(試料)Ni-2Sn. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)300℃. (反射ベクトルg)200. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61021. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61021
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

(備考)loop　組み写真用低倍写真.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61022. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61022
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61023. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61023
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61024. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61024
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61025. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61025
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61026. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61026
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61027. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61027
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61028. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61028
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61029. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61029
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61030. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61030
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61031. Ni, N3, JMTR contolled　, 400℃, ED., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61031
範囲と内容

(試料)Ni. (試料番号)N3. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61032. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61032
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K. (反射ベクトルg)200.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61033. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61033
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200.

(備考)A.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61034. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61034
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)11K. (反射ベクトルg)200.

(備考)B.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61035. 11K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61035
範囲と内容

(条件・倍率等)11K.

(備考) 見開きに記載なし, 脱漏ヵ.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-61036. Ni-2Ge, H223, JMTR contolled　, 400℃, BF, 5.3K., [1989年10月14日.]

 アイテム
資料番号: O-61036
範囲と内容

(試料)Ni-2Ge. (試料番号)H223. (照射条件)JMTR contolled　. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)5.3K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1989年10月14日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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