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熊取町 (大阪府 泉南郡)

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件名：ソース: Ku Peek

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86491. JHM-2, JMTR controlled, 400℃, BF, 21K., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86491
範囲と内容

(試料)JHM-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86492. JHM-2, JMTR controlled, 400℃, DF, 21K., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86492
範囲と内容

(試料)JHM-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86493. JHM-2, JMTR controlled, 400℃, BF, 21K., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86493
範囲と内容

(試料)JHM-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＜＜0.

(備考)ボイド.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86494. JHM-2, JMTR controlled, 400℃, BF, 52K., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86494
範囲と内容

(試料)JHM-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ボイド転位ループ.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86495. JHM-2, JMTR controlled, 400℃, BF, 52K., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86495
範囲と内容

(試料)JHM-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86496. JHM-2, JMTR controlled, 400℃, ED., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86496
範囲と内容

(試料)JHM-2. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86497. JHM-3, JMTR controlled, 400℃, BF, 21K., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86497
範囲と内容

(試料)JHM-3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)日付元記載「90. 11. 16」. 実験者元記載「浜田」.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86498. JHM-3, JMTR controlled, 400℃, DF, 21K., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86498
範囲と内容

(試料)JHM-3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86499. JHM-3, JMTR controlled, 400℃, DF, 21K., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86499
範囲と内容

(試料)JHM-3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86500. JHM-3, JMTR controlled, 400℃, BF, 21K., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86500
範囲と内容

(試料)JHM-3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86501. JHM-3, JMTR controlled, 400℃, BF, 52K., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86501
範囲と内容

(試料)JHM-3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＜0.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86502. JHM-3, JMTR controlled, 400℃., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86502
範囲と内容

(試料)JHM-3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86503. JHM-3, JMTR controlled, 400℃, BF, 52K., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86503
範囲と内容

(試料)JHM-3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)52K.

(備考)ボイド.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86504. JHM-3, JMTR controlled, 400℃, BF, 10K., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86504
範囲と内容

(試料)JHM-3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)10K.

(備考)ボイド.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86505. JHM-3, JMTR controlled, 400℃, BF, 21K., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86505
範囲と内容

(試料)JHM-3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86506. JHM-3, JMTR controlled, 400℃, ED., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86506
範囲と内容

(試料)JHM-3. (照射条件)JMTR controlled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86507. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 42K., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86507
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

(備考)日付元記載「90. 11. 16」. 実験者元記載「浜田」.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86508. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 42K., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86508
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)42K.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86509. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86509
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86510. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86510
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86511. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86511
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86512. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86512
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86513. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86513
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86514. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86514
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86515. Ni, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [19]90. 11. 16.

 アイテム
資料番号: O-86515
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [19]90. 11. 16.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86516. Ni, JMTR uncontrolled, 300℃, BF., [1990年]11/19.

 アイテム
資料番号: O-86516
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)日付元記載「11/19」.

日付: [1990年]11/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86517. Ni, JMTR uncontrolled, 300℃, ED., [1990年]11/19.

 アイテム
資料番号: O-86517
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年]11/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86518. Ni, JMTR uncontrolled, 300℃, BF., [1990年]11/19.

 アイテム
資料番号: O-86518
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)boundary.

日付: [1990年]11/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86519. Ni, JMTR uncontrolled, 300℃, BF., [1990年]11/19.

 アイテム
資料番号: O-86519
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)BF.

(備考)反対側.

日付: [1990年]11/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86520. Ni, JMTR uncontrolled, 300℃, ED., [1990年]11/19.

 アイテム
資料番号: O-86520
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)この傾きのdiff.

日付: [1990年]11/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86521. Ni, JMTR uncontrolled, 300℃, ED., [1990年]11/19.

 アイテム
資料番号: O-86521
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)300℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)その時と同じXY傾きのdiff.

日付: [1990年]11/19.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86523. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 31K., [1990年]11/20.

 アイテム
資料番号: O-86523
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)31K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)loop. 日付元記載「11/20」.

日付: [1990年]11/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86524. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 400℃, DF, 52K., [1990年]11/20.

 アイテム
資料番号: O-86524
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＜＜0.

(備考)SFT.

日付: [1990年]11/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86525. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [1990年]11/20.

 アイテム
資料番号: O-86525
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)　＋18赤0-8（20９.

日付: [1990年]11/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86526. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [1990年]11/20.

 アイテム
資料番号: O-86526
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)傾き0のときのdiff.

日付: [1990年]11/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86527. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 31K., [1990年]11/20.

 アイテム
資料番号: O-86527
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)31K.

(備考)　X0　Y黒0-3（80）傾き0,0付近.

日付: [1990年]11/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86528. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 21K., [1990年]11/20.

 アイテム
資料番号: O-86528
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)112.

(備考)α.

日付: [1990年]11/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86529. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 21K., [1990年]11/20.

 アイテム
資料番号: O-86529
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)α.

日付: [1990年]11/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86530. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [1990年]11/20.

 アイテム
資料番号: O-86530
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1990年]11/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86531. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 21K., [1990年]11/20.

 アイテム
資料番号: O-86531
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)111.

(備考)β.

日付: [1990年]11/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86532. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [1990年]11/20.

 アイテム
資料番号: O-86532
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)傾き　0,0.

日付: [1990年]11/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86533. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 21K., [1990年]11/20.

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資料番号: O-86533
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K. (反射ベクトルg)220.

(備考)α　-3.5黒3-6（160）.

日付: [1990年]11/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86534. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [1990年]11/20.

 アイテム
資料番号: O-86534
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年]11/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86535. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 21K., [1990年]11/20.

 アイテム
資料番号: O-86535
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

(備考)β　-4黒6（0）.

日付: [1990年]11/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86536. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [1990年]11/20.

 アイテム
資料番号: O-86536
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年]11/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86537. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 400℃, ED., [1990年]11/20.

 アイテム
資料番号: O-86537
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)傾き0,0.

日付: [1990年]11/20.
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86538. Ni-2Cu, JMTR uncontrolled, 400℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86538
範囲と内容

(試料)Ni-2Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)400℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86539. Ni-3Cu, JMTR uncontrolled, 401℃, ED., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86539
範囲と内容

(試料)Ni-3Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)401℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86540. Ni-4Cu, JMTR uncontrolled, 402℃, BF, 21K., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86540
範囲と内容

(試料)Ni-4Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)402℃. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)21K.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-86541. Ni-5Cu, JMTR uncontrolled, 403℃, ED., [1990年11月20日.]

 アイテム
資料番号: O-86541
範囲と内容

(試料)Ni-5Cu. (照射条件)JMTR uncontrolled. (照射温度)403℃. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1990年11月20日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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