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熊取町 (大阪府 泉南郡)

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件名：ソース: Ku Peek

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84820. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84820
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84821. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84821
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84822. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84822
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84823. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 100K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84823
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84824. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84824
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84825. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84825
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84826. Ni, Heイオン照射1MeV, DF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84826
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84827. Ni, Heイオン照射1MeV, BF, 50K., [1992年]12/11.

 アイテム
資料番号: L-84827
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)Heイオン照射1MeV. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/11.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84828., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84828
範囲と内容

(備考)日付元記載「12/12」.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84829. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84829
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (EM/D3)EM. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α　＋16赤5（180）.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84830. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84830
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84831. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84831
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84832. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84832
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84833. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84833
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84834. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84834
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84835. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84835
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84836. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, BF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84836
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84837. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, BF, 20K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84837
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84838. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, ED., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84838
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84839. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84839
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β　＋24黒1（40）.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84840. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84840
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝1.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84841. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84841
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84842. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84842
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝2.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84843. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84843
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84844. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84844
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＝3.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84845. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, BF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84845
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84846. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, BF, 20K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84846
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)20K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84847. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, ED., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84847
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84848. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84848
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞0.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84849. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84849
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84850. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84850
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84851. Cu-2Ge, T302, サイクルII-B, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84851
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)T302. (照射条件)サイクルII-B. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84852. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84852
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α　22黒6（340）. 日付元記載「12/12」. 実験者元記載「Kiz」.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84853. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84853
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84854. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84854
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84855. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84855
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84856. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84856
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K.

(備考)α.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84857. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, ED., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84857
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)α.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84858. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84858
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)α.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84859. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84859
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β　306（300）.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84860. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84860
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84861. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84861
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84862. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84862
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84863. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84863
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84864. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84864
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84865. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 50K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84865
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)50K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84866. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, BF, 100K., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84866
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)BF. (条件・倍率等)100K.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84867. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, ED., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84867
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84868. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 5., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84868
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5.

(備考)別視野.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

[ネガフィルム, Lシリーズ] L-84869. Cu, Heイオン照射, 2.0E19H/m^2, DF, 5., [1992年]12/12.

 アイテム
資料番号: L-84869
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)Heイオン照射. (照射量)2.0E19H/m^2. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)5.

(備考)別.

日付: [1992年]12/12.
見つかった位置: Research Resource Archive, Kyoto University / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Lシリーズ.

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