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熊取町 (大阪府 泉南郡)

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件名：ソース: Ku Peek

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33456. Cu, RTNS-II, 200℃, SS, DF., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33456
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (ブラック条件からのずれs)sさらに大.

(備考)A.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33457. Cu, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33457
範囲と内容

(試料)Cu. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33458. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33458
範囲と内容

(試料)Ni. (EM/D3)EM. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (反射ベクトルg)220.

(備考)α　220　.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33459. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33459
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

(備考)α 2枚.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33460. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33460
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33461. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33461
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33462. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33462
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33463. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33463
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33464. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33464
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33465. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33465
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33466. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33466
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33467. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33467
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33468. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33468
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33469. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33469
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33470. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33470
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33471. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33471
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33472. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33472
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33473. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33473
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

(備考)α.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33474. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33474
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33475. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33475
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (反射ベクトルg)200.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33476. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33476
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33477. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33477
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33478. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33478
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33479. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33479
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33480. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33480
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

(備考)β.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33481. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33481
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33482. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33482
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33483. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33483
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)↓.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33484. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33484
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s＞＞＞0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33485. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33485
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33486. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, DF, 100., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33486
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)DF. (条件・倍率等)100. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33487. Ni, RTNS-II, 200℃, SS, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33487
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)200℃. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33488. Ni, JOYO, 1, 52K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33488
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ボイドあり.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33489. Ni, JOYO, 1., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33489
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33490. Ni, JOYO, 1., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33490
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33491. Ni, JOYO, 1., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33491
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33492. Ni, JOYO, 1., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33492
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33493. Ni, JOYO, 1., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33493
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33494. Ni, JOYO, 1., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33494
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33495. Ni, JOYO, 1., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33495
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33496. Ni, JOYO, 1, BF., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33496
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33497. Ni, JOYO, 1, BF., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33497
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33498. Ni, JOYO, 1, BF., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33498
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33499. Ni, JOYO, 1, BF., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33499
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33500. Ni, JOYO, 1, BF., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33500
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33501. Ni, JOYO, 1, BF., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33501
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)BF. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33502. Ni, JOYO, 1, ED., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33502
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)1. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33503. Ni, JOYO, 2, 4.2K., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33503
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)2. (条件・倍率等)4.2K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33504. Ni, JOYO, 2., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33504
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)2.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-33505. Ni, JOYO, 2., [1986年10月12日.]

 アイテム
資料番号: O-33505
範囲と内容

(試料)Ni. (照射条件)JOYO. (照射量)2.

日付: [1986年10月12日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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