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熊取町 (大阪府 泉南郡)

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件名：ソース: Ku Peek

63414 コレクションおよび/またはレコード 表示:

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35554. Cu-2Ge, π147 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35554
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)π147 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35555. Cu-2Ge, π147 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35555
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)π147 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35556. Cu-2Ge, π147 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35556
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)π147 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35557. Cu-2Ge, π147 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35557
範囲と内容

(試料)Cu-2Ge. (試料番号)π147 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K.

(備考)FM＋5.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35558. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35558
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (EM/D3)EM. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)ST.1　＋10黒1（130）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35559. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35559
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35560. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35560
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35561. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35561
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35562. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35562
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35563. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35563
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35564. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35564
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35565. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35565
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35566. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35566
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35567. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35567
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)ST.2　＋9.5赤6（240）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35568. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35568
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35569. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35569
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35570. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35570
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35571. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35571
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35572. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35572
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35573. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35573
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)隣の視野.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35574. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35574
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35575. Cu-2Sn, π597 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35575
範囲と内容

(試料)Cu-2Sn. (試料番号)π597 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35576. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35576
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (EM/D3)EM. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)st.1　＋19赤6（120）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35577. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35577
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35578. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35578
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35579. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35579
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35580. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35580
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35581. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35581
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35582. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35582
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35583. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35583
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35584. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35584
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35585. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35585
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s小.

(備考)st.2　＋27赤6（340）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35586. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35586
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35587. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35587
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35588. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 52K., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35588
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)52K. (ブラック条件からのずれs)s大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35589. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35589
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35590. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35590
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s大.

(備考)大.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35591. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', ED., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35591
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35592. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35592
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

(備考)小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35593. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35593
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s中.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35594. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35594
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s小.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35595. Cu-2Si, π407 Koyama, RTNS-II, RT, S', DE, 100K., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35595
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)π407 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)S'. (Dark, Bright, ED)DE. (条件・倍率等)100K. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35596. Ferr, α275 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35596
範囲と内容

(試料)Ferr. (EM/D3)EM. (試料番号)α275 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)きれい　下16（＋）赤（0）何もなし.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35597. Cu-2Si, α276 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

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資料番号: O-35597
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α276 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35598. Cu-2Si, α277 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35598
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α277 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35599. Cu-2Si, α278 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35599
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α278 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＞＞0.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35600. Cu-2Si, α279 Koyama, RTNS-II, RT, SS, ED., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35600
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α279 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (Dark, Bright, ED)ED.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35601. Cu-2Si, α280 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35601
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α280 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS. (ブラック条件からのずれs)s＝0.

(備考)下10（＋）黒8（120）.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35602. Cu-2Si, α281 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35602
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α281 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

[ネガフィルム, Oシリーズ] O-35603. Cu-2Si, α282 Koyama, RTNS-II, RT, SS., [1986年12月1日.]

 アイテム
資料番号: O-35603
範囲と内容

(試料)Cu-2Si. (試料番号)α282 Koyama. (照射条件)RTNS-II. (照射温度)RT. (照射量)SS.

日付: [1986年12月1日.]
見つかった位置: Kyoto University Research Resource Archive / 高エネルギー粒子照射材料透過電子顕微鏡写真, ca.1985-1997. Transmission Electron Microscopy Photographs of Materials irradiated by High-Energy Particle, ca.1985-1997. / 透過電子顕微鏡写真(ネガフィルム). / [写真] Oシリーズ.

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